粉體行業在線展覽
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光譜反射儀(SR)系列是一款相對較低成本和操作簡單的工具。
SR 系列特征:
簡單易操作
**系統性能基于先進的光學設計
基于陣列的探測器系統保證快速測量
測量薄膜厚度和折射率可達5層
允許在毫秒內獲得反射、透射和吸收光譜
可用于實時或在線厚度,折射率的監測
系統具有全面的光學常數數據庫
先進的TFprobe軟件允許用戶使用NK表、分散或有效介質近似(EMA)每個單獨的膜。
可升級到MSP(顯微分光光度計)系統,SRM映射系統,多通道系統,大點的·直接測量圖案或功能結構
適用于多種不同厚度的基材
各種附件可用于特殊配置,如運行曲線測量曲面
2D和3D輸出圖形和用戶友好的數據管理接口
光譜反射儀型號:
SR100 | SR300 | SR500 |