粉體行業在線展覽
熱釋電性能測試儀 aixPYM
面議
欣源科技
熱釋電性能測試儀 aixPYM
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本系統主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測試。
薄膜材料變溫范圍:-196℃到+600℃;
塊體材料變溫范圍:室溫到200℃、室溫到600℃、室溫到800℃、-100℃到+600℃、-184℃到+315℃五種夾具可選。
測試結果可得到:
熱釋電電流、熱釋電系數、剩余極化強度對溫度和時間的曲線。
優點:
一個系統就可以進行薄膜及塊體材料的鐵電和熱釋電性能進行綜合評價,如傳感器和執行器
單一軟件進行外部硬件控制(如溫度控制器、高壓放大器、位移傳感器、示波器)和數據采集
遠程接入和腳本控制
選件可實現數據庫連接(ODBC)方便對材料/設備進行表征
針對用戶應用和要求的硬件
升級服務,用戶支持
儲氫材料測試儀
電子束能量分布測試儀 diaBEAM
熱電性能測試儀 COMTESSE
熱釋電性能測試儀 aixPYM
鐵電隨機存儲器測試儀
鐵電自放電測試儀 aixPES-DR
鐵電遲豫電流測試儀 aixPES-RX
阻變式存儲器測試儀 RRAM
機電薄膜e31測試儀 aix4PB
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雙光束激光干涉儀 aixDBLI
熱激發極化電流測試儀 TSDC