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雙光束激光干涉儀 aixDBLI
面議
欣源科技
雙光束激光干涉儀 aixDBLI
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雙光束激光干涉儀專門用于壓電薄膜的蝴蝶曲線和縱向壓電系數d33的測試。
這是世界上**臺適合于從小尺寸薄膜到8英寸晶圓表征的雙光束激光干涉儀。
半自動的系統用于8"晶圓上的MEMS器件的壓電性和電性相關性能的測試。
大量樣品測試的重復精度可達2%以上。
測試功能:
機電大信號應變、極化、壓電系數、小信號介電常數。
疲勞和電性及機械性能可靠性。
樣品測試:
極化曲線和位移曲線。
小信號電容及壓電系數。
技術參數:
分辨率: ≤1 pm(X晶向的石英)
測量范圍:5pm- +/- 25nm
波長:632.8nm
位移/應力測試:>50Hz,*小1Hz分辨率,100mV到10V(可選到200V)
壓電d33系數:
基電壓100mV到10V(1mHz到1Hz),可選到200V
小信號100mV到10V(1kHz到5kHz)
C-V測試:
基電壓100mV到10V(1mHz到1Hz),可選到200V
小信號100mV到10V(1kHz到5kHz)
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