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薄膜材料的機電性能是MEMS器件設計的關鍵性能，縱向壓電系數d33和橫向壓電系數e31被用于表征傳感器和執行器的這些關鍵性能。
縱向壓電系數可由aixDBLI測試，而橫向壓電系數e31就可用aix4PB系統測試。
通過必要夾具，可以測得正向e31和逆向e31。

標準的aix4PB系統主要由以下部分組成：四點彎曲樣品夾具、TF Analyzer 2000、單光束激光測振儀。
可以進行如下測試功能：
全部鐵電性能表征，基于TF2000系統，包括極化、電容、漏電流、疲勞測試。
有效橫向壓電系數的測量通過交替均勻機械力施加于樣品，并測試產生的電荷。
所有的測量數據也可以在附加的壓縮或拉伸靜態負載下進行，這也覆蓋了整個壓電薄膜在整個MEMS器件中的行程。

特點/規格：
四點彎曲樣品夾具：
產生力的壓電執行器
激光測振儀夾具
很容易接觸到頂部和底部的樣品電極
所有的TF2000系統的測試功能
遠程接入和腳本控制的可選件
單光束激光干涉儀，*小分辨率1nm

軟件：
Windows 7 操作系統
通過GPIB或以太網的遠程接入和腳本控制
通過ODBC接口的數據庫連接
測試數據通過ASCII形式輸出
測試數據交換通過aixPlorer軟件或Resonance Analyzer