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ZEISS GeminiSEM 300場發(fā)射掃描電子顯微鏡

直接聯(lián)系

卡爾蔡司(上海)管理有限公司.

德國

產(chǎn)品規(guī)格型號
參考報(bào)價(jià):

面議

關(guān)注度:

810

產(chǎn)品介紹

GeminiSEM 系列產(chǎn)品

高對比度、低電壓成像的場發(fā)射掃描電子顯微鏡

為對任意樣品進(jìn)行高水準(zhǔn)的成像和分析而生

蔡司GeminiSEM 系列產(chǎn)品具有出色的探測效率,能夠輕松地實(shí)現(xiàn)亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下,更高的表面細(xì)節(jié)信息靈敏度讓您在對任意樣品進(jìn)行成像和分析時(shí)都具備更佳的靈活性,為您在材料科學(xué)研究、生命科學(xué)研究、工業(yè)實(shí)驗(yàn)室或是顯微成像平臺中獲取各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實(shí)的圖像,提供靈活、可靠的場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)和方案。

GeminiSEM 300 具有出色的分辨率、更高的襯度和更大且無畸變的成像視野,可方便地選取適合樣品的真空度等環(huán)境參數(shù),使FESEM初學(xué)者也能快速掌握.

更靈活的成像方式

無論是資深用戶還是初學(xué)者,GeminiSEM 300將讓您體驗(yàn)到在更高的分辨率和更佳的襯度下進(jìn)行極大視野范圍成像的樂趣,并且在高真空或是可變壓力模式下都可以實(shí)現(xiàn)。

  • 得益于高效的信號采集系統(tǒng)和優(yōu)異的分辨率性能,可實(shí)現(xiàn)快速、高質(zhì)量、無畸變的大范圍成像;

  • 創(chuàng)新設(shè)計(jì)的高分辨率電子槍模式,為對磁性樣品、不導(dǎo)電樣品以及電子束敏感樣品的低電壓成像量身訂制解決方案;

  • 蔡司獨(dú)樹一幟的鏡筒內(nèi)能量選擇背散射探測器,在低電壓下也可輕松地獲得高質(zhì)量的樣品材料襯度圖像;

  • NanoVP技術(shù)讓您可以使用鏡筒內(nèi)Inlens二次電子探測器對要求苛刻的不導(dǎo)電樣品進(jìn)行高靈敏度、高分辨成像。

洞察產(chǎn)品背后的科技

Gemini電子光學(xué)系統(tǒng)

Gemini 1類型鏡筒 -延續(xù)創(chuàng)新和發(fā)展

如今,掃描電子顯微鏡(SEM)在低電壓下的高分辨成像能力,已成為其在各項(xiàng)應(yīng)用領(lǐng)域中的標(biāo)準(zhǔn)配置。

低電壓下的高分辨率成像能力,在以下應(yīng)用領(lǐng)域中扮演著尤為重要的角色:

    • 電子束敏感樣品

    • 不導(dǎo)電樣品

    • 獲取樣品極表面的真實(shí)形貌信息

Gemini的革新電子光學(xué)設(shè)計(jì),應(yīng)用高分辨率電子槍模式、以及Tandem decel樣品臺減速技術(shù)(選配),有效提高了在低電壓時(shí)的信號采集效率和圖像襯度。

  • 高分辨率電子槍模式:

    • 縮小30%的出射電子束能量展寬,有效地降低像差;

    • 獲得更小的束斑。

  • Tandem decel樣品臺減速技術(shù),進(jìn)一步提高對適用樣品在低電壓甚至極低電壓下的分辨率:

    • Tandem decel減速技術(shù)將鏡筒內(nèi)減速和樣品臺偏壓減速技術(shù)相結(jié)合,有效地實(shí)現(xiàn)低著陸電壓;

    • 使用1 kV及以下更低電壓時(shí),鏡筒內(nèi)背散射探測器的檢測效率獲得更好地增強(qiáng),低電壓下的分辨率得到進(jìn)一步提高。

    • 對適用的樣品可以加載高達(dá)-5 kV的樣品臺偏壓,在低電壓下獲得更高質(zhì)量的圖片

    • 優(yōu)化靜電場和磁場的復(fù)合功效,在低電壓下具有的更高的分辨率;

    • 提高鏡筒內(nèi)Inlens探測器在低電壓下的信號采集效率。

技術(shù)參數(shù):

基本規(guī)格蔡司 GeminiSEM 300
熱場發(fā)射電子槍,穩(wěn)定性優(yōu)于0.2 %/h
加速電壓

0.02 - 30 kV
探針電流

3 pA - 20 nA
(100 nA配置可選)
存儲分辨率

**達(dá)32k × 24k 像素
放大倍率

12 – 2,000,000
標(biāo)配探測器

鏡筒內(nèi)Inlens二次電子探測器
樣品室內(nèi)的Everhart Thornley二次電子探測器

可選配的

項(xiàng)目

NanoVP可變壓力模式
高效VPSE探測器(包含在NanoVP可變壓力選件中)

局部電荷中和器

鏡筒內(nèi)能量選擇背散射探測器

環(huán)形STEM探測器(aSTEM 4)

角度選擇背散射探測器

EDS能譜儀

EBSD探測器(背散射電子衍射)

可訂制特殊功能樣品臺
環(huán)形背散射電子探測器
陰極射線熒光探測器

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