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FS500全譜直讀光譜儀
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FS500全譜直讀光譜儀
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一、概述:
FS500全譜直讀光譜儀廣泛應用于鋼鐵、有色金屬材料元素含量分析,可快速、準確、可靠測量幾十種元素,滿足研發、生產控制、產品檢驗等多方面需求。FS-500全譜火花直讀光譜儀適用于鐵,鋁,鋅,銅,鎂,鎳,鈦,鈷等十類金屬樣品的成分分析。
二、FS500全譜直讀光譜儀技術特點:
主機 | FS500全譜直讀光譜儀廣泛應用于鋼鐵、有色金屬材料元素含量分析,可快速、準確、可靠測量幾十種元素,滿足研發、生產控制、產品檢驗等多方面需求。 2 光學設計參數高,檢測性能好 2 檢測波長范圍達到130-800nm,無論從檢測下限到檢測上限都在CCD光譜領域處于好地位。 2 真空光室設計,保護光學器件,節省氬氣 2 節能設計,使用維護成本低 2 設計緊湊可靠,故障率低 2 PC控制的變頻高能預火花(HEPS) 2 測試速度快,只需30秒 2 使用、維護簡便,對人員專業要求低 |
光柵 | FS500全譜直讀光譜儀采用了業內CCD型儀器焦距500mm的光柵,獲得好的分辨率 改善測試準確性、重復性——焦距大,分辨率好,有效降低譜線干擾, 優化光譜線的選擇——可使用更多性能優異的譜線 |
探測器 | FS500全譜直讀光譜儀采用了新的CCD檢測器技術,配置業內像素數高、像素高度大的檢測器設計——像素數3648,像素高度200μm。 根據應用需要多達16塊CCD檢測器,增加儀器基體及元素分析升級的靈活性 ; 更高的像素設計獲得更優的光譜分辨率, 更大的像素高度獲得更好的檢測強度。 |
真空光室 | FS500全譜直讀光譜儀采用了真空型光室,配置先進的間歇真空系統。光學器件密封在真空環境中,延長光學器件使用壽命。 精密加工工藝使光室密閉性能極為優異,配置超高真空精密閥門,每天真空泵工作時間少于10分鐘。保留了傳統真空設計的所有優點,完全避免了其能耗和輕微油污的缺點。 與沖氬氣光室對比: 首先,兩種設計都可以滿足普通用戶的基本測試需求。 真空光室設計是高端儀器配置,保證了儀器的高性能。廠商需要配置真空泵和附屬器件,成本較高,但性能較好。 沖氬氣設計是廠商降低成本的設計,廠商減少了真空系統成本,部分犧牲了性能,增加了用戶成本。用戶消耗需更多氬氣,周期性更換昂貴的耗材(凈化管)。 1. 分辨率 真空光室焦距更大,分辨率好。 沖氬氣光室為了減少沖氬氣空間,縮短的沖氬氣光室的焦距,一般小于200mm,分辨率較差。 2. 譜線透過率 真空紫外譜線(涉及典型元素C、P、S、B等)在真空中透過率更好 3. 光室清潔度 采用先進的間歇真空系統,光室完全清潔無污染。 沖氬氣光室可能有氬氣帶入潮氣和顆粒物,污染脆弱的光柵和CCD。 4. 使用成本 采用先進的間歇真空系統,真空泵每天僅工作十分鐘,電力消耗微乎其微。 沖氬氣光室消耗大量氬氣,并且周期性的更換耗材(凈化管)價格不菲。 |
激發臺 | FS500光譜儀的火花臺采取了密封式設計,整個火花臺的結構堅固,在儀器持續使用高溫火花激發的情況下保持火花臺結構的穩定。 FS500光譜儀的火花臺通過結構設計上的變化改進了氬氣流的噴射方向,大大減少了火花激發殘留物在火花臺上的殘留,同時使火花臺的清潔和維護也變得更為簡單。 FS500光譜儀保留了開放式樣品臺的設計,使樣品的放置及分析更加簡便,樣品處理也比傳統光譜更加簡單。除電極間隙外,無特別調整要求 |
電路系統 | FS500光譜儀的電路系統進行了全新的設計。在火花源及讀出系統上都運用了當今新的技術。 FS500光譜儀采用了同步實時數字讀出技術,與傳統的順序讀出技術相比,分析時間和數據的穩定性都會大大提高。 FS500光譜儀采用了全數字等離子火花光源技術。所有的激發參數可通過用戶界面由用戶根據實際需求自定義進行設置。 FS500光譜儀將電路系統與光學系統進行了完全的分離,將電路系統統一置于儀器光室的外部分,這樣的設計使儀器的散熱功能大大提升,同時使儀器的后續維護也十分便捷。 |
自校功能 | 在每次激發時,光學系統自動進行譜線掃描,確保接收的正確性,免除繁瑣的波峰掃描工作。 全譜技術自動描跡調整光路,激發樣品時,儀器自動識別每塊CCD上的特定譜線,與原存儲線進行對比,確定漂移位置,找出分析線當前的像素位置進行測定。消除因溫度/氣壓/震動等變化而產生的光譜漂移。全譜技術自動快速尋址,避免了費事費力的手動操作,也避免了人為誤差。 |
后期擴展 | FS500全譜直讀光譜儀基于CCD全譜測試技術,可更全面地測試各種金屬材料中中元素種類,儀器可以非常方便增加譜線,增加基體,在不添加硬件設施的情況下,即可實現多基體分析。 客戶可以在使用過程中根據實際需要在儀器上增加分析的基體及元素種類,這些工作可以在用戶現場方便完成。 |
操作便捷 | FS500全譜直讀光譜儀分析軟件用戶體驗好,簡單易學。無專業背景的操作人員經簡單培訓后,可操作軟件進行樣品測試和儀器校準。 同時FS500全譜直讀光譜儀儀器的設計處處體現了以人為本的設計理念,使儀器的使用和維護處處體現人性化的關懷。 |
三、FS500直讀光譜儀的技術參數
(一)光學系統 :
巴邢-龍格架法
光柵焦距:500 mm.
波長范圍:130–800 nm
高性能全息衍射光柵,光柵刻線:3600條/mm
探測器:16塊高性能線陣CCD
像素分辨率:單個CCD 3,648 像素,zui大58,368 像素的分辨率(16 x 3,648 像素)
光室溫度:自動控制恒溫:34℃±0.5℃
**的漂移校正功能-得益于自動尋峰功能(度達到0.1像素)
全光學系統自動描跡
密閉的真空光學室可以避免灰塵、光線的干擾
(二)激發平臺 :
開放式樣品臺設計,滿足大樣品測試要求
4mm樣品臺分析間隙
“噴射電極”技術輕松應對小樣品及復雜幾何形狀樣品
低氬氣消耗,待機時:無須待機流量
定制異性樣品適配器
不同基體無須更換火花臺
優化的雜質排出系統
牢固的銅制樣品臺散熱效果佳
(三)激發光源 :
全自動控制火花源
半導體控制放電激發
1 到 100 A等低氬氣消耗
使用便捷的樣品離子體電流
放電參數由密碼保護
特別的分析要求可有不同的激發參數
火花光源放電穩定,不受供電系統波動的影響
激發參數由激發線和分析程序標定和控制
火花源可有多種參數設置
火花頻率: 200 到 to 1000 Hz (可控)
火花持續時間 10-10000 us (可控)
(四)光譜儀控制系統和數據讀出系統 :
電子系統具有微處理器控制的多通道積分和數據系統采集功能
高速16位模數轉換器
ISP混合信號Flash微控制器100MHz
多種連接源
高速讀出及高速USB接口支持快速數據控制與處理系統
zui多16塊CCD模塊,由制造商根據應用情況選擇
(五)WinLab10 分析軟件 :
計算每種元素的校正曲線需考慮到各種基體(參考線)
智能化 : 用一組標樣即可完成標準化
便于操作的用戶圖形界面
創建或修改分析程序
常用的操作功能鍵
可選擇的輸出方式 ( 強度,強度比,未校正的濃度,校正后的濃度等)
可選擇的濃度單位 ( ppm, % )
通用標準化
微型標準化
校正元素間的干擾
自動標準化
標準偏差和相對標準偏差功能
合金類型鑒定(UNI, ISO, DIN, EN, ASTM, JIS, BS, 等)
標樣庫
物質庫
牌號鑒定
支持C當量或其他參數的計算
可標記超出工作曲線范圍的元素分析結果
具有根據分析時間或激發次數自動再校正功能
統計功能軟件
統計計算
可打印所有激發結果或是zui duo100次的激發平均結果,及其標準偏差和相對標準偏差
硬盤存儲數據便于今后的研究分析,可連接外部計算機或中心系統
(六)尺寸 :
尺寸(Dimension): PL93x W40 x H63 cm
重量(Weight): 約 100 Kg