粉體行業(yè)在線展覽
Park NX Hybrid WLI
面議
Park
Park NX Hybrid WLI
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Park NX-Hybrid WLI
Park NX Hybrid
WLI是有史以來**款具有內(nèi)置WLI輪廓儀的AFM,用于半導(dǎo)體和相關(guān)制造質(zhì)量保證。例如半導(dǎo)體前端、后端到高級封裝的過程控制,以及研發(fā)計量。它適用于那些需要在大面積上進行高吞吐量測量的設(shè)備,這些設(shè)備可以縮小到具有亞納米分辨率和超高精度的納米級區(qū)域。
WLI: 白光干涉測量是一種光學技術(shù),它可以對非常寬的區(qū)域進行成像,速度非常快,滿足高吞吐量測量。
AFM: 原子力顯微鏡是一種掃描探針技術(shù),即使對透明材料也能提供*精確的納米級分辨率測量。
高真空原子力顯微鏡
專為超大納米平板顯示器測量而設(shè)計的自動化原子力顯微鏡(AFM)系統(tǒng)
自動缺陷檢測原子力顯微鏡
Park NX20
Park NX Hybrid WLI
Simply the best AFM for automatic defect review and surface
Park SmartScan
Park XE15
Park NX20 300mm
YH MIP-0103型
P100
OPTM series
VX3000
AFM5500M
53X-C
Nanonics MV2500
JEM-ARM200F NEOARM
QDAFM
牛津儀器原子力顯微鏡
AFM5500M