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Simply the best AFM for automatic defect review and surface roughness measurement

對于媒介和基體領域的工程師而言，識別納米級缺陷是一個非常耗時的工作。Park NX-HDM原子力顯微鏡系統可借助數量級實現自動缺陷識別、掃描和分析，從而加快缺陷的檢查過程。Park NX-HDM可與眾多的光學檢查工具直接進行連接，這就意味著自動缺點檢查通量會大幅提高。此外，Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測量功能。憑借著業內*低的本底噪聲和獨特的True Non-Contact?技術，Park NX-HDM毫無疑問是市面上表面粗糙度測量*精確的原子力顯微鏡。

Higher Throughput, Automatic Defect Review

對于媒介和基體領域的工程師而言，識別納米級缺陷是一個非常耗時的工作。Park NX-HDM原子力顯微鏡系統可借助數量級實現自動缺陷識別、掃描和分析， 從而加快缺陷的檢查過程。Park NX-HDM可與眾多的光學檢查工具直接進行連接，這就意味著自動缺點檢查通量會大幅提高。

Sub-Angstrom, Surface Roughness Measurement

業內對于超平媒介和基體的要求越來越高，所以需要滿足設備體積不斷減小的需求。此外，Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測量功能。憑借著業內*低的本底噪聲和獨特的True Non-Contact?技術，Park NX-HDM毫無疑問是市面上表面粗糙度測量*精確的原子力顯微鏡。