粉體行業在線展覽
面議
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The model SBA-25 Subgap 亞能帶缺陷光吸收測量系統, 由鹵素燈、單色儀和斬波器組成, 比帶隙單色光有更小的能量,能夠在備用的當前光具內照射. 光的量是由一個鎖定放大器放大后的監測和控制,以保持恒定的光強度在每個波長的濾光片。 放置在該系統的光照強度檢測可以實時控制光的強度。然后,光照強度和樣品測量的光強度變化之間的變化也可以保持*小,優良的可重復的數據可以得到。
照射面積 6×6mm
輻照強度精度 ±5%
平面輻照均勻性 within ±10%
光量穩定 within ±5%
輻照強度范圍 100nW/cm2~5mW/cm2
波長純度 approx. 24nm ( Slit width of monochoromator: 4mm)
光學系統 Asymmetrical Czerny-Turner mount Aperture ration F=4.3 Reciprocal linear dispersion 6nm/mm(600 lines/ mm ) wavelength accuracy±0.2nm
輻照光 Direct current and Intermittent light, manual control switching
斬波器 0.1~100Hz
照射方向 Downward
光強度監測 Measuring by a lock in amp
樣品電流測量 by connecting a current amp to the sample, its output voltage is to be measured by a lock in amp
*小檢測電流 100fA(1e-13A)
吸收系數 6 digit number
Revontium
N80
ScopeX PILOT
VANTA
逸出功能譜儀
ARL X'TRA Companion X射線衍射儀
EDX6000C
WEPER XRF2800
Niton XL2 980Plus
BA-100 G系列
NAOMi-CT 3D-M