粉體行業在線展覽
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北京安洲科技有限公司
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410Vis-IR 可見-紅外反射率/發射率儀是為了替換經典的 Gier Dunkle DB100反射率儀而開發的，可測量13個光譜波段的反射率。可見光測量頭測量范圍為335nm~2500nm，紅外測量頭測量范圍為1.5μm~21μm。利用太陽輻照度函數或黑體函數，通過20°和60°兩個角度計算太陽能吸收率或熱輻射，通過計算定向發射率推測半球總發射率。
兩個測量頭可以互換使用，可現場測量，操作極為簡便。測量時只需把樣品放置在測量單元的頂部即可直接測定。通過與手柄連接，該儀器可作為一個手持單元操作，一次完整的測量用時僅約10秒。隨機配備鏡面金質標樣，并可選提供NIST可溯源標定。
功能特點
n 在接近法線和掠角兩個角度測量定向熱發射率
n 半球熱輻射的預測
n 測量太陽能吸收/反射
n 在335至2500nm光譜范圍內，測量總輻射、鏡面反射和漫反射能量
n 可測量光譜范圍：從可見到中遠紅外
n NIST可溯源標準
n 快速和便攜式使用
n PDA觸摸屏操作，內置SD卡
應用領域
n 航空工業
n 天文望遠鏡檢查
n 涂層領域
n 太陽能領域優化太陽能利用性能
n 節能建筑
n 光學材料質量控制
技術參數
410Vis-IR便攜式太陽反射率及發射率測量儀 | |
符合標準 | ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408 |
測量參數 | 定向半球反射比(DHR) |
測量方法 | 波段范圍內積分總反射比 |
輸出參數 | 總發射比，漫反射比，和20°角的鏡面反射 |
波段區間 | 335~2500nm范圍內7個波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nm IR范圍內6個波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm |
入射角 | 20°&60°法線入射 |
樣品表面 | 任何表面，6”半徑凸面，12”半徑凹面 |
測量時間 | 10秒/次；90秒預熱 |
光源 | VIS：鎢燈，IR：鉻鋁鈷合金 |
測量探頭 | 模塊化設計，測量頭可更換 |
操作界面 | 觸摸式液晶屏軟件界面 |
工作環境 | 儲存環境：-25~70℃；操作環境：0~40℃，非冷凝 |
供電 | 兩塊可充電鎳氫電池 |
重量 | 2.1Kg，含電池 |
產地：美國
