粉體行業在線展覽
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北京理加聯合科技有限公司
美國
面議
630
該高光譜成像儀能夠采集大部分的近紅外波段光譜圖像，大大拓寬了Pika II和Pika NIR的應用領域，同時大大提高了空間分辨率，幫助用戶獲得質量更優異的高光譜圖像。
主要特點：
高精確度—非常低的桶形和梯形失真；
高信噪比—極低的雜散光；
重量輕，結構緊湊，超高性價比；
操作簡便；
提供輻射定標；
控制電腦已預裝SpectrononPro、Resonon采集及分析軟件。
技術指標：
光譜范圍 | 900 – 1700 nm |
光譜分辨率 | 4.9 nm |
光譜通道數 | 164 |
空間通道數 | 320 |
每秒**幀數 | 520 fps |
位深度 | 14 |
連接方式 | GigE |
重量 | 2.7 kg |
尺寸 | 11.0 x 29.6 x 8.9 cm |
操作溫度 | 5 - 40 ℃ |
孔徑 | f/1.8 |
平均RMS光斑半徑 | 10 μm |
Smile（峰峰值） | 10 μm |
Keystone（峰峰值） | 10 μm |
