粉體行業(yè)在線展覽
面議
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從原料檢驗到*終產(chǎn)品控制,Polytec 近紅外光譜儀系統(tǒng)(PSS)為提高生產(chǎn)過程的經(jīng)濟效益開創(chuàng)了許多可能性。
過程分析的決定性優(yōu)勢是可實現(xiàn)對生產(chǎn)過程的全自動化實時控制。除了確保產(chǎn)品質量的一致性外,也可以對生產(chǎn)過程本身進行監(jiān)控和優(yōu)化。過程分析可實現(xiàn)高質量、低成本且便捷的解決方案,從而實現(xiàn)快速****。 該方法可應用于不同的生產(chǎn)環(huán)節(jié):進貨檢驗、過程控制和100%的終端產(chǎn)品分類。許多相關參數(shù)可以從一次測量中獲得。例如,定性和定量化學分析,或者層厚度測量是典型的應用。
Polytec 近紅外光譜儀系統(tǒng)(PSS)的設計使其可以實現(xiàn)靈活的配置,可為各種應用提供*有利的解決方案。 將合適的探頭、光譜儀和軟件進行各種組合以滿足不同應用的需求。系統(tǒng)使用標準化的組件,以確保在集成過程中的高精度和易用性。PSS系統(tǒng)基于成熟的技術,提供滿足特定應用的解決方案,安全且易于集成。
實驗室和工業(yè)應用根據(jù)所需的典型測量和輸出需求而有所不同。 為了在實驗室中進行數(shù)據(jù)采集,我們的軟件包提供了全面測量功能以實現(xiàn)快速高效的數(shù)據(jù)采集。對于工業(yè)在線應用,我們提供可配置的解決方案,從細節(jié)的特定測量設置到與過程控制系統(tǒng)進行通信。 我們的軟件產(chǎn)品組合還包括由成熟的多元數(shù)據(jù)分析供應商提供的一系列兼容軟件包
Polytec 近紅外光譜儀系統(tǒng)(PSS)與標準的化學計量學軟件包完全兼容,便于進行光譜測量的多元數(shù)據(jù)分析。 這些軟件包可以成功用于化學計量學方法的計算、開發(fā)以及過程分析中的在線預測。目前 , 我們提供來自以下合作伙伴的各種化學計量學軟件:
1) Camo (The Unscrambler® X)
2) SensoLogic (Calibration Wizard)
3) Umetrics (Simca)
1) 集成 20W 鎢鹵素光源用于樣品照射
2) SMA 905 光纖連接
3) 工業(yè)防護等級 IP64
4) 帶藍寶石窗的不銹鋼外殼(僅接觸式探頭)
5) 配置可滿足食品行業(yè)通行法規(guī)或防爆認證(僅接觸式探頭)
6) 適用的測量距離從 150 毫米到 600 毫米不等(非接觸式探頭)
7) 通過光源和傳感器單元的組合,適用的測量距離從0 到 50毫米不等(接觸式探頭)
1) 近紅外光譜儀是過程分析中*重要和*廣泛使用的方法之一。無損,無創(chuàng),無需樣品制備,不產(chǎn)生浪費
2) 采用二極管陣列技術,即使在高測量速率下也能提供穩(wěn)定可靠的測量結果
3) 創(chuàng)新的透射光柵的設計,能夠實現(xiàn)**的靈敏度和極低的散射光( 對比度 > 1:50,000 ),同時保證長期穩(wěn)定性
4) 全自動的系統(tǒng)校準,可調整的測量光斑大小
5) 標準化的光譜范圍,極低的散射光水平,極高的測量速率,接近理論極限的均勻的光學分辨率
6) 接觸式和非接觸式探頭專為工業(yè)應用而設計,可滿足苛刻的現(xiàn)場要求,無懼灰塵、濕氣、壓力和溫度等種種因素的影響,符合通用的生產(chǎn)和安全規(guī)定,例如可以用于食品工業(yè)或防爆區(qū)
7) 可通過多探頭光學切換模塊實現(xiàn)一臺設備配套多個探頭的應用,實現(xiàn)多條生產(chǎn)線互不干擾的實時過程監(jiān)控和控制
8) 提供標準模塊化的設備和軟件,高度的靈活性,易于集成,簡化操作
1) 從原材料的實時檢測到*終產(chǎn)品的質量控制的生產(chǎn)全過程,通過減少廢品率來提高效率和降低成本
2) 對整個生產(chǎn)過程的自動實時控制,確保產(chǎn)品的質量穩(wěn)定性,對生產(chǎn)工藝過程實現(xiàn)全程監(jiān)測并進行優(yōu)化
3) 一臺儀器可以測量多個參數(shù),降低客戶設備投資成本
4) 無需樣品制備過程,加快檢測通量
5) 對待測樣品絲毫不產(chǎn)生破壞,非侵入性測量,也不存在樣品消耗
6) 為每位客戶制定詳細的年度維護及預防性維修方案,保證設備長期連續(xù)可靠運行,真正實現(xiàn)極低的使用和維護成本
7) 便捷的操作和維護
1) 固體(如散裝貨物 ,粉末 ,紙張或紡織品)
2) 流體(例如液體 ,懸浮液 ,擴散和粘性介質)
3) 氣體(如氣溶膠或煙霧)
4) 非接觸式探頭用于遠距離測量的反射探頭( 傳送帶、網(wǎng)狀應用等等 )
5) 接觸式探頭用于近距離或與樣品直接接觸( 管道,滑槽,漏斗等 )測量
6) 青貯玉米檢測
7) 飼料檢測
8) 食品
9) 制藥
10) 工業(yè)在線質控
11) 產(chǎn)品篩選(例如按照顆粒大小分類,或按照成分不同進行分類)
12) 膜層厚度測量
型號:PSS 1720
光譜范圍:850 – 1650 nm
檢測器:InGaAs
像素:256
分辨率:<6.4 nm或<9.5 nm
型號:PSS 1750
光譜范圍:850 – 1650 nm
檢測器:InGaAs
像素:512
分辨率:<3.2 nm或<4.8 nm
型號:PSS 2120
光譜范圍:1100 – 2100 nm
檢測器:InGaAs
像素:256
分辨率:<7.9 nm或<11.9 nm
型號:PSS 2220
光譜范圍:1200 – 2200 nm
檢測器:InGaAs
像素:256
分辨率:256 <7.9 nm或<11.9 nm
配套附件
1) 多探頭光學切換模塊
2) 直線型單光纖光纜
3) 探頭電源和控制電纜
4) 探頭支架
5) 旋轉臺
與常用的化學分析方法不同,近紅外光譜分析法是一種間接分析技術,是用統(tǒng)計的方法在樣品待測屬性值與近紅外光譜數(shù)據(jù)之間建立一個關聯(lián)模型(或稱校正模型,Calibration Model)。近紅外光譜法是利用含有氫基團(X-H,X為:C,O,N,S 等)化學鍵(X-H)伸縮振動倍頻和合頻,在近紅外區(qū)的吸收光譜,通過選擇適當?shù)幕瘜W計量學多元校正方法,把校正樣品的近紅外吸收光譜與其成分濃度或性質數(shù)據(jù)進行關聯(lián),建立校正樣品吸收光譜與其成分濃度或性質之間的關系(校正模型)。在進行未知樣品預測時,應用已建好的校正模型和未知樣品的吸收光譜,就可定量預測其成分濃度或性質。
Polytec GmbH:先驅者,創(chuàng)新者,**主義者。
Polytec在全球擁有400多名員工,為研究和行業(yè)開發(fā),生產(chǎn)和銷售光學測量技術解決方案。優(yōu)質的創(chuàng)新產(chǎn)品在專業(yè)領域享有盛譽,并根據(jù)客戶的日常需求量身定制專屬的解決方案。
今天,Polytec專注于科技領域:
1) 震動測量
2) 測速
3) 3D表面測量
4) 過程分析
5) 圖像處理
6) 其他光學系統(tǒng)
Polytec的技術應用于眾多專業(yè)領域,包括:航空航天,醫(yī)療,納米技術,機械工程領域等。Polytec的測量技術在這些領域都能幫助企業(yè)樹立并鞏固其技術**地位。用戶在測量敏感的生產(chǎn)流程,產(chǎn)品質量時都會依賴于Polytec的測量技術。