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面議
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FT-3671系列全量程四探針測試儀
一.概述:
四探針法,可測微歐到兆歐方阻值量程,采用AD芯片控制,恒流輸出, PC軟件運行,自動數據測量和系數修正,直讀方阻,電阻,電阻率和電導率數據;中文或英文語言版本;具有屏蔽功能;參考美國 A.S.T.M 標準。單晶硅物理測試方法
二.適用范圍:
1.導電性新材料、鋁箔、銅箔、鋁涂層、碳纖維材料、電極材料;
2.一般的涂層材料、薄膜、薄片基底材料研究.
3.大學、研究所、R&D部門對新材料寬量程電阻率或電導性能研究使用.
三.參數資料:
規格型號 | FT-3671A經濟型 | FT-3671B自動型 |
1.方塊電阻范圍 | 10^6~2×10^7Ω/□ | |
2.電阻率范圍 | 10^7~2×10^8Ω-cm | |
3.測試電流范圍 | 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA, 100nA ,10nA , 1nA | |
4.電流精度 | 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA±0.1% ;100nA ,10nA , 1nA±2% | |
5.電阻精度 | 10^2Ω以下量程≤0.5%; 10^2Ω以上量程≤10%; | |
6.PC軟件界面操作 | PC軟件界面顯示:電阻、電阻率、方阻、電導率、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、過程圖譜,報表生成. | |
7.測試方式 | 手動測量 | 自動測量 |
8.工作電源 | 輸入: AC 220V±10%.50Hz功 耗:<100W | |
9.誤差 | 小量程≤4%(標準樣片結果);大量程≤10% | |
10.校準方式 | 標準電阻和標準樣片 | |
11.測試探頭 | 探針間距選購: 2mm;3mm兩種規格; 探針材質選購:碳化鎢針、鍍金磷銅半球形針 |