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面議
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XRF9能量色散X射線熒光分析儀
nXRF9能量色散X射線熒光分析儀器是基于X射線熒光分析法對樣品進(jìn)行定性和定量分析、檢測構(gòu)成元素類別和含量的儀器。
nXRF9可以無損分析塊狀固體、粉末、液體樣品,廣泛應(yīng)用于質(zhì)檢、電子、醫(yī)藥、食品、冶金、化工、地礦、考古等領(lǐng)域的研究開發(fā)和品質(zhì)管理。
(注):X射線熒光(XRF)分析法是測定有初級X射線激發(fā)樣品時(shí)所產(chǎn)生的二次特征X射線(X射線熒光),它是一種非破壞性分析方法,可以對試樣進(jìn)行多元素快速分析。
產(chǎn)品特點(diǎn)
n先進(jìn)的多光束可調(diào)系統(tǒng)
n具有高分辨率的探測器
n采用XYZ三維樣品臺
n大型樣品分析室
nCCD攝像及自動(dòng)定位系統(tǒng)
n自動(dòng)調(diào)節(jié)雙層六通道濾光系統(tǒng)
n完善的輻射安全防護(hù)
n強(qiáng)大功能的軟件操作系統(tǒng)
n短時(shí)間多元素同時(shí)分析
n無損分析和先進(jìn)的薄樣分析技術(shù)相組合
n多種定量分析方法
n無需液氮和水循環(huán)冷卻
n種類齊全的選配標(biāo)準(zhǔn)樣品
nRoHS/WEEE指令快速分析
儀器配置
n外形尺寸:750(L)×590(W)×715(H)mm3
n樣品室尺寸:400(L)×100(W)×100(H)mm3
n主機(jī)質(zhì)量:約45Kg
n工作環(huán)境溫度:0~40oC
n工作環(huán)境相對濕度:≤80%
n元素分析范圍:AI-U
n含量分析范圍:1ppm~99.99%
n重復(fù)性:<5%
n測量時(shí)間:一般60~300s
n測量對象:塊狀物體、粉末、液體
n激發(fā)功率:50W
n探測器分辨率:149gev
n輸入電源:AC110V/220V
n高壓電源:0~50kv/0~1mA
nX射線輻射劑量:≤1μSv/h
代表性元素120s*低檢出限LOD(mg/kg)
性能指標(biāo)
塑料基體 | Cr | Br | Cd | Hg | Pb |
LOD | 8 | 2 | 4 | 4 | 5 |
Revontium
N80
ScopeX PILOT
VANTA
逸出功能譜儀
ARL X'TRA Companion X射線衍射儀
EDX6000C
WEPER XRF2800
Niton XL2 980Plus
BA-100 G系列
NAOMi-CT 3D-M