粉體行業在線展覽
面議
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XRD-7000 X射線衍射儀
X射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品,進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且,可通過峰面積計算進行定量分析。
可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精密X射線結構解析等各種分析
技術特點
· XRD-7000系列配備了樣品水平型測角儀,能夠測定超大型樣品。· 不但可進行定性/定量等基本分析,還可以應用于殘留奧氏體定量、環境定量、晶格常數的精密化、結晶度的計算、晶體粒徑和晶格應力的計算、晶系確定、Rietveid結構解析軟件進行的晶體結構解析。通過追加附件,還可以應用于應力測定、樣品加熱過程的分析、薄膜樣品測定等。
· 利用新開發的大型R-θ樣品臺,可以進行350mmφ樣品全表面的自動應力成圖測定。
· 采用強大的多毛細管平行光束系統,可對應凹凸不同的樣品的分析,擴大應用范圍。
Revontium
N80
ScopeX PILOT
VANTA
逸出功能譜儀
ARL X'TRA Companion X射線衍射儀
EDX6000C
WEPER XRF2800
Niton XL2 980Plus
BA-100 G系列
NAOMi-CT 3D-M