粉體行業在線展覽
面議
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組合式多功能X射線衍射儀Ultima IV系列是一種高性能多功能的粉晶X射線衍射儀,它采用了理學**的CBO交叉光學系統,一臺儀器可以進行從普通粉末樣品到包括In-Plane在內的薄膜樣品測試。采用組合式結構,通過對各個單元的不同組合,可以進行各種測試。
技術參數
1. X射線發生器功率為3KW
2. 測角儀為水平測角儀
3. 測角儀*小步進為1/10000度
4. 測角儀配程序式可變狹縫
5. 高反射效率的石墨單色器
6. CBO交叉光路,提供聚焦光路及高強度高分辨平行光路(帶Mirror)(理學獨有)
7. 小角散射測試組件
8. 多用途薄膜測試組件
9. 微區測試組件
10. In-Plane測試組件(理學獨有)
11. 高速探測器D/teX-Ultra
12. X射線衍射-差示掃描量熱儀同時測量裝置 XRD-DSC
13. 分析軟件包括:XRD分析軟件包、NANO-Solver軟件包、GXRR軟件包等
主要特點:
組合式多功能X射線衍射儀Ultima IV系列,可以廣泛應用于各種材料結構分析的各個領域。
可以分析的材料包括:金屬材料、無機材料、復合材料、有機材料、納米材料、超導材料
可以分析的材料狀態包括:粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區微量樣品
主要的應用有:
1. 粉末樣品的物相定性與定量分析
2. 計算結晶化度、晶粒大小
3. 確定晶系、晶粒大小與畸變
4. Rietveld結構分析
5. 薄膜樣品分析,包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度,電荷密度
6. In-Plane裝置可以同時測量樣品垂直方向的結構及樣品深度方向的結構
7. 小角散射與納米材料粒徑分布
8. 微區樣品的分析
Revontium
N80
ScopeX PILOT
VANTA
逸出功能譜儀
ARL X'TRA Companion X射線衍射儀
EDX6000C
WEPER XRF2800
Niton XL2 980Plus
BA-100 G系列
NAOMi-CT 3D-M