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NEX QC+

對于要求苛刻的應用，或者分析時間或樣品通量為關(guān)鍵的情況下，理學提供新型NEX QC+光譜儀。使用新一代硅探測器技術(shù)，增強的NEX QC+在元素峰分辨率和計數(shù)統(tǒng)計中提供顯著改善，從而為**挑戰(zhàn)性的測量提供高級校正和測量精度。

EDXRF的質(zhì)量管理應用

理學公司推出的新型的NEX QC+為常規(guī)的質(zhì)量管理應用程序做了特別的設(shè)計。新型NEX QC+設(shè)計了一個操作簡便且直觀的“圖標驅(qū)動”觸屏界面，此外，儀器中內(nèi)置打印機便于使用。

高精度和廣泛的元素范圍

50kV的X射線管和Peltier冷卻半導體檢測器提供特殊的短期重復性和長期重復性。該電壓**可達50kV，與多個自動X射線管濾光片結(jié)合，提供了廣泛的應用程序的多功能性和低限制的檢測（LOD）。

選購附件 ― 自動樣品轉(zhuǎn)換器、氦氣和FP

選購附件包括FP法、自動樣品轉(zhuǎn)換器、旋轉(zhuǎn)樣品臺和氦氣凈化器（增強輕元素的靈敏度）。主要特點

·非破壞性分析元素¹¹Na到⁹²U

·適用于固體、液體、合金、粉末和薄膜樣品

·50kV 的X射線管可分析廣泛的元素范圍

·半導體檢測器可獲得優(yōu)質(zhì)數(shù)據(jù)

·現(xiàn)代智能手機樣式的“圖標驅(qū)動”用戶界面

·多個自動X射線管濾光片可增強靈敏度

·內(nèi)置熱敏打印機便于使用

·性價比高

·選購附件FP法