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R9plus 掃描探針顯微鏡控制器
產品簡介： 繼美國RHK Technology公司推出的革命性掃描探針顯微鏡控制平臺R9取得極大成功之后，其研發團隊通過升級其軟硬件和功能隆重發布了R9plus控制器。相比于R9控制器，R9plus性能提升主要包括： > 全新的FPGA固件構架極大地提高了配置靈活性 > 對于高級測量提供了60多個可用的數據通道 > 數據流和掃描速度均提高5倍 > 優化的高壓輸出電路板，噪聲水平降低到R9控制器的1/4 > 兩個掃描探針控制系統 > 可設置任意密度的網格點進行圖譜測量 |
產品特點 極低噪音與超高穩定性！ | |
單箱集成所有輸入、輸出及控制模塊 | R9plus更低的噪聲水平 |
極低噪聲，超高速度和精度的數模轉換接口 | 線性電源提供極低噪聲密度 |
| 開放性與靈活性極高！ | |
HDLTM軟件界面 R9掃描探針顯微鏡控制平臺采用了RHK獨有的IHDLTM圖像化硬件描述與編輯軟件，通過簡單的“拖放”操作，即可完成對硬件和實驗的所有設置。 同時IHDLTM全面兼容LabVIE和MATLAB，為實驗的設計提供了無限的可能。 特制的硬件系統 采用RHK特制的且優化設計的硬件模塊，利用RHK UltraDAC技術以極低的噪音水平對所有的信號進行數字化運算和處理。 硬件模塊包括：PLLs， lock-ins， filters， amplifiers， phase shifters， counters等。 | |
強大而優異的功能 將所有SPM的功能模式集中到一起，通過軟件即可快捷的對硬件系統進行重新定義。 無需外界模塊和設備可實現包括STM、dI/dV隧道譜、接觸式&非接觸式AFM、導電AFM、開爾文探針顯微鏡KFM、SNOM等功能。 兼容所有商業化的STM/AFM系統，并實現對他們的全面控制。 | |
功能強大，性能可靠！ | > 支持所有的掃描探針顯微鏡操作模式，包括：STM、dI/dV譜、接觸式和導電式AFM、非接觸式AFM、開爾文探針KFM等。不需要添加任何外置設備； > 支持音叉式和微懸臂式AFM； > 支持所有非接觸式AFM模式 -- PLL、Lock-in、Self Oscillation。接觸式AFM模式 -- Constant Excitation、Constant Signal和Q-control等。采用全數字式Phase Shifter，保證了系統的穩定性；； > PLL和Multiple Lock-in通道一起使用，可以同時采集多個諧頻信號； > SNOM：多個高速輸入通道可以同時對表面成像，并采集光學信號（模擬或脈沖計數）； > KFM：無需添加任何外置的設備，即可完成KFM實驗； > 全面兼容LabVIEW和MATLAB等語言與程序； |
極強的譜圖能力！ 20 monolayer Pb/1 monolayer PTCDA molecule/20 monolayer Au/ Si substrate. Smaller gap is due to proximity effect of superconductivity. | 20 monolayer Pb/1 monolayer PTCDA molecule/20 monolayer Au/ Si substrate. Smaller gapis due to proximity effect of superconductivity. |
利用R9plus采集掃描隧道譜圖，允許實時顯示10條閾值譜線，且譜線的每個像素點可以單獨顯示和分析。 | |
