粉體行業在線展覽
面議
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SOC-200 是一款高精度科研級BRDF測量系統,可以從可見到中紅外波譜范圍內全自動測量樣品的BRDF,實現光學表面、油漆、涂層、液體和顆粒等雙向反射分布函數(BRDF)制圖。BRDF數據可以提供研究材料光學性能所必須的方向反射信息,如表面能量散射的方向和強度。
主要特點:
n 光譜范圍:0.35~14μm(基于檢測器選項)
n 測量本底噪聲:<10-3sr-1
n 可水平裝置粉末和液體樣品進行測量
n 重復性:<本底噪聲的5%
n 全自動測量四個角坐標 (Θ and Φ、入射及反射角)
n 集成電控單元,用于快速處理、顯示和存儲數據
n 自動帶通濾光輪,一次性測量十二種多光譜通道。
n 支持斯特林循環冷卻的MCT和InSb檢測器,可以無人值守地全自動數據采集,自動切換標樣樣品測量
測量指標:
n 全半球雙向反射分布函數(BRDF)
非偏振BRDF
線性偏振BRDF
n 雙向透射分布函數(BTDF)
應用領域:
n 航空工業
n 國防
n 航天
n 行星探測
n 涂層領域
n 光學材料質量控制
技術參數:
項目 | 參數 |
測量項目 | BRDF、BTDF |
光譜范圍 | 0.35~14μm |
角度范圍 | ? Incident polar: Theta i Θi = 0° to 85° ? Incident azimuthal: Phi i Φi = 0° to 350° ? Reflected polar: Theta r Θr = 0° to 85° ? Reflected azimuthal: Phi r Φr = 0° to 360° |
角度精度 | 0.1° |
光譜濾波 | 標準商業化1英寸薄膜帶通濾光片 |
自動化 | Θi,Φi,Θr,Φr,光源孔徑,濾光輪和樣品/參照X極 |
光源 | Quartz halogen lamp, and silicon carbide glower |
檢測器 | Si, InGaAs, dual InSb/MCT |
本底噪聲 | <10-3sr-1 |
樣品尺寸 | 直徑1英寸圓片、粉末、液體 |
運行 | PC控制,全自動測量 |
尺寸 | 53″W x 53″D x 75″H |
產地:美國