XOS多毛細管X光透鏡

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北京眾星聯恒科技有限公司

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506

產品介紹

根據客戶需求提供定制多毛細管x射線光學解決方案。

多毛細管準直透鏡器件 將高度發散的 X 光束轉換成低發散的準平行光束。這些透鏡器件主要應用于 X 射線衍射 (XRD) 和波長色散譜 (WDS)。

多毛細管聚焦透鏡器件 從 X 射線源收集 X 射線的大立體角，并將射線聚焦為小至 10 μm 的光斑。獲得的 X 射線通量密度比用常規針孔準直器獲得的高幾個數量級。這些透鏡器件的主要應用是微量 X 射線熒光 (XRF) 分析，廣泛用于薄膜和電鍍分析、貴金屬評估、合金測量和電路板涂層監測。該透鏡器件還可用于在諸如共焦 XRF 分析和超導能量色散 X 射線光譜儀等應用中進行檢測。使用多毛細管聚焦透鏡器件將顯著提高檢測靈敏度，并允許使用低功率 X 射線管實現高性能。微米級空間分辨率使之可應用于電子和貴金屬小特性評估。多毛細管透鏡器件提供 100x-10，000x 的增益，輸出焦點可小至 10 μm。

特性

來自微米級光斑的量級通量增益

• 與緊湊型低功率電源集成，可提供相當于旋轉陽極源的通量

• 光譜帶寬較寬：50 eV - 50 KeV

• 點對點會聚光束

• 點對平行光束

• 可定制設計機殼

優勢

極高的通量密度

• 提高了空間分辨率

• 非常適合分析形狀不規則、未經制備或低阻抗的樣品

優于電子探針 X 射線分析：

• 增強檢測靈敏度

• 無需特殊樣品制備

• 在空氣中操作

技術參數：

Focusing Optics								Applications include micro-XRF forelemental mapping， plating thickness and fine feature analysis.
Working distance (mm)	2	4	9	20	50	100	200
Focal spot size* (μm， FWHM，17.4keV)	7	15	25	45	100	180	300
Intensity gain* (vs а plnhole collimator of same size， 100mm fгom the source)	6000	4500	3500	2000	800	300	120

Note: *With а 100μm X-ray source.

Half-focusing Optics (XRF/XAS)						Applications include micro XRF， micro XAS， and confocal XRF.
Working distance (mm)	2	4	9	20	50
Focal spot size* (μm， FWHM，17.4keV)	7	15	25	45	100
Intensity gain* (vs a pinhole collimatorof same size)	850	550	400	200	80

Note: *With an incident beam of 2mm in diameter and a divergent angle of <0.5mrad

Collimating/Parallel Beam Optics (XRD/WDS/XRF)

Applications include powder XRD，

texture and stress analysis， WDS and

confocal XRF.

Output beam diameter(mm)

0.5

Intensity gain*

130

250

370

470

680

850

Note: *With а 50μm X-ray source at 8keV， The lFD of the optics is 18mm and the output divergent angle is 0.2 degree.

Figure 1: 有機玻璃散射X射線光譜

Comparison of MXRF spectra generated using a focusing polycapillary optic and a pinhole aperture. The spectra was collected by scattering a Mo beam off Plexiglas.

Figure 2: 采用光暈抑制型毛細管實現高分辨率 XRF Mapping

Comparison of MXRF spectra generated using a focusing polycapillary optic and a pinhole aperture. The spectra was collected by scattering a Mo beam off Plexiglas.

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特性

優勢

優于電子探針 X 射線分析：

Figure 1: 有機玻璃散射X射線光譜