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裂變徑跡年代學，是一種根據礦物中重核元素238U裂變產生的輻射損傷特性進行分析的技術，鋯石和磷灰石是兩種主要分析礦物。50多年來，裂變徑跡在原理方法和應用研究上逐步深入，并取得了進展和突破。與U-Pb和Ar/Ar中、高溫熱年代相比，裂變徑跡熱年代以低溫封閉特性為特色，它們與U-Th/He熱年代數據一道，成為約束低溫段造山帶剝露、地形地貌和沉積盆地熱演化的重要手段。

德國徠卡的裂變徑跡顯微分析系統，適于磷灰石\鋯石等裂變徑跡的研究，通過徠卡智能型顯微鏡的自動化操作，對兩個樣本對應區域進行自動鏡像精準定位、對比統計；能自動完成礦物顆粒分析、徑跡數目統計、測量徑跡與C軸角度、測量Dpar、Dper值，依據自發徑跡密度和誘發徑跡密度計算裂變徑跡表觀年齡。

系統組成

• 徠卡智能型全自動研究級顯微鏡；

• 高精度自動掃描臺；

• 自動聚焦模塊；

• 自動物鏡轉盤；

• 編碼識別變倍系統；

• 智能型光強、光闌控制；

• 研究級彩色數碼攝像頭；

• 專業的裂變徑跡應用軟件包。

裂變徑跡顯微分析系統的主要功能：

• 統計軟件模塊能在高分辨率下，對兩個范圍對應區域進行自動鏡像對比統計。

• 統計軟件模塊能自動完成顆粒數目統計。

• 統計軟件模塊能自動讀出徑跡長度。

• 各種軟件生成或導出的數據文件能與 Microsoft Excel 軟件格式相匹配，進行數據的后續

• 處理；

• 功能的控制及圖像灰度、長度、計數等有關參數的計算；

• 實現徑跡長度和計數等功能的軟件，即圖像采集、處理、分析、管理等處理軟件，外設控制或可選插件的控制：攝像機的獲取插件控制；XY 載物臺控制；

• 多維圖像獲取和瀏覽插件，用于多時間點、多波長、多位點的圖像獲取；

• 自動薄片掃描控制；自動聚焦控制；

• 文件管理控制等。