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透射電子顯微鏡原位-原子尺度雙傾力熱電集成系統(tǒng)

直接聯(lián)系

百實創(chuàng)(北京)科技有限公司

北京

產(chǎn)品規(guī)格型號
參考報價:

面議

關(guān)注度:

820

產(chǎn)品介紹

關(guān)于INSTEMS系統(tǒng)

原位透射電子顯微分析方法是實時觀測和記錄位于電鏡內(nèi)部的樣品對于不同外場如力、熱、電等激勵信號的動態(tài)響應(yīng)過程的方法,是當(dāng)前物質(zhì)結(jié)構(gòu)表征科學(xué)中**穎和**發(fā)展空間的研究領(lǐng)域之一。受限于透射電鏡樣品室狹小的空間及特殊的結(jié)構(gòu),目前商業(yè)化的透射電鏡原位力學(xué)樣品桿多采用探針式力場加載,無法實現(xiàn)雙軸傾轉(zhuǎn),大大限制了研究者從原子尺度下原位研究材料的力學(xué)行為及變形機制。針對這一世界性技術(shù)難題,百實創(chuàng)公司專項開發(fā)的INSTEMS系列透射電鏡用原位原子尺度雙軸傾轉(zhuǎn)力、熱、電一體化綜合測試系統(tǒng)擁有獨特創(chuàng)新設(shè)計的MEMS芯片以及與之相匹配的微驅(qū)動系統(tǒng),保證了樣品在透射電鏡毫米尺度空間內(nèi)實現(xiàn)力場與熱場或電場耦合加載條件下,同時具備大角度正交雙軸傾轉(zhuǎn)功能,進而實現(xiàn)在多場耦合加載下材料原子尺度顯微結(jié)構(gòu)及其性能演化的原位觀察與記錄。該系統(tǒng)可實現(xiàn)1200℃高溫下力熱耦合加載,**驅(qū)動力大于100mN,驅(qū)動行程大于4μm,*小驅(qū)動步長低于0.5nm,達(dá)到國際**水平,極大的擴展了透射電子顯微鏡在材料科學(xué)原位研究領(lǐng)域的應(yīng)用。

本系統(tǒng)與各大品牌電鏡有優(yōu)異的機械及電磁兼容性,穩(wěn)定性高,保證電鏡原有的分辨能力。整合了獨特創(chuàng)新設(shè)計的MEMS芯片與微型驅(qū)動器的高集成Mini-lab原位樣品搭載平臺,保證了不同形狀、性質(zhì)的樣品在TEM中有穩(wěn)定的力、熱、電加載實驗環(huán)境,并能精確控制參數(shù)變量;通過更換不同Mini-lab實驗臺,可以靈活的實現(xiàn)力、熱、電單場或任意兩場耦合加載,并能做到互不干擾。精密的結(jié)構(gòu)設(shè)計保證樣品能在場加載條件下實現(xiàn)大角度雙傾,結(jié)合皮米級超高精度控制系統(tǒng),確保顯示的原子像無抖動、分辨率高。功能強大,操作便捷的控制軟件提供了豐富的加載模式,并實時收集與處理數(shù)據(jù),滿足用戶不同條件下的實驗與測試設(shè)計要求。

可實現(xiàn)多場耦合加載:

ISTEMS系列產(chǎn)品具有高度集成的可定制化微型實驗系統(tǒng)。通過更換不同功能的微型實驗臺(Mini-lab),該系列可靈活施加力、熱、電等多種外場組合。

Mini-lab獨特的MEMS芯片設(shè)計和新穎的集成策略解決了小區(qū)域多場耦合加載兼容性難題。可獨立控制多場加載,避免相互干擾。

原子尺度分辨率:

INSTEMS系列結(jié)構(gòu)緊湊的微型實驗臺和特殊設(shè)計的β軸傾轉(zhuǎn)機構(gòu)**融合了多場耦合施加和雙軸傾轉(zhuǎn)功能,可輕松實現(xiàn)原子尺度分辨的動態(tài)觀察。

高精度控制與測量:

超靈敏微型驅(qū)動器

穩(wěn)定的四電極MEMS芯片

可靠的電學(xué)連接

無干擾的電路布局

強大的高精度多通道源表

確保INSTEMS系列產(chǎn)品可同時實現(xiàn)高精度加熱、pm級驅(qū)動控制和pA級電信號測量。

適用范圍極寬、功能易于擴展:

INSTEMS系列適用于多種形態(tài)尺寸的材料(適用于塊體以及一維、二維納米材料);

可實現(xiàn)多種類型的多場耦合施加(熱--電耦合);加載靈活,可對樣品進行拉伸加載、壓縮加載、彎曲加載,也可進行納米壓痕實驗;同時可根據(jù)用戶需求進行功能擴展。適用于大部分固體無磁材料的研究。

關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)與參數(shù):

熱場指標(biāo)

溫度范圍

室溫~1200℃*

加熱速率

>10000℃/s

溫度精度

≥98%

測溫方式

四電極法

EDS兼容性

力場指標(biāo)

驅(qū)動精度

<500pm

**驅(qū)動力

>100mN

**位移

4μm

電場指標(biāo)

**輸出電壓

±50V

電流測量范圍

1pA-1A*

電壓測量范圍

100nV-50V

雙傾指標(biāo)

α角傾轉(zhuǎn)范圍

±25°

β角傾轉(zhuǎn)范圍

±25°*

驅(qū)動精度

<0.1°

分辨率

極限穩(wěn)定性

<50pm/s*

空間分辨率

≤0.1nm*

* 列出參數(shù)取決于Mini-lab型號與電鏡狀態(tài)。

硬件說明:樣品桿部分包含雙軸傾轉(zhuǎn)樣品桿與配套的Mini-lab實驗臺,MET型號樣品桿可兼容所有類型的Mini-lab實驗臺

軟件控制:力、熱、電三場都具有豐富的加載模式可供選擇:力場可選擇單向拉/壓加載或循環(huán)加載;電場擁有7種可供選擇的波形加載;熱場可自由設(shè)置溫控程序

應(yīng)用范圍

1. 高溫環(huán)境下的力學(xué)行為

在力場與熱場條件下原位實時觀察材料原子像,并能獲取成分信息。可應(yīng)用于加速蠕變、高溫相變、元素擴散、高溫塑性變形、再結(jié)晶、析出相與位錯的關(guān)系等方面的研究。

原位原子尺度研究高溫合金相在高溫下(1150℃)的形變機理

原位觀察超級合金在400℃與750℃下塑性變形過程

2. 高溫環(huán)境下的電學(xué)行為

在熱場與電場條件下原位實時觀察材料原子像,并獲取電場數(shù)據(jù)。可應(yīng)用于熱電材料、半導(dǎo)體、相變存儲、電場可靠性分析、介電材料等領(lǐng)域的研究。

熱電耦合條件下SnSe原位原子尺度失效分析

3. 力與電場的交互行為

在力場與電場條件下原位實時觀察材料原子像,測量和控制樣品電信號。可應(yīng)用于壓電材料、鐵電材料、鋰離子電池、柔性電子器件等領(lǐng)域的研究。

4. 力場、熱場、電場單場條件下的材料組織變化

可定量的控制單力場、熱場、電場施加于樣品,并實時原位的觀察樣品原子像及成分信息。

高熵合金900℃條件下觀察元素擴散

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透射電子顯微鏡原位-原子尺度雙傾力熱電集成系統(tǒng)

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