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用途：該試驗箱適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產業電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導體、被動組件、零件接腳氧化試驗。

型號：HZQ-3（4）

特點：

1.微電腦溫度控制器P.I.D. + P.W.M. + S.S.R. 控制LED數字顯示.

2.白金溫度感知器（PT-100）與精確的溫度可控制解析能力0.1C.

3.蒸汽試驗目標溫度設定控制/蒸汽試驗運轉計時時間設定控制.

4.全自動安全保護裝置、雙重高溫保護/蒸汽用水斷水空焚保護裝置..

主要技術參數：

測試槽尺寸：92*285*40（W*D*H）mm 3/4SET

加熱時間：RT～98℃About50min

溫度穩定度：±0.3℃

內箱材質：304﹟不銹鋼

外箱材質：烤漆涂裝

符合標準：GB、ISO、ASTM、UL、CEN…

可按照公司提供的要求定做.