粉體行業在線展覽
FE-5001
1-5萬元
FE-5001
185
FE-5001型鐵電參數測試儀/PUND測試
關鍵詞:電滯回線,疲勞Fatigue,漏電流LM,電流-偏壓
FE-5001型鐵電測試儀/PUND測試是一款功能豐富的鐵電測試儀/PUND測試,可廣泛地應用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執行器/存儲器等領域的研究。
鐵電參數測試主要性能指標:
a. 外接5 kV高壓放大器;
b. 動態電滯回線測試頻率范圍0.01 Hz ~ 1 kHz;
c. **電荷解析度:10 mC;
d. 疲勞測試頻率300 kHz(振幅10 Vpp,負載電容1 nF);
e. 漏電流測量范圍 1 pA ~ 20 mA,分辨率0.1 pA;
f. 配有高壓擊穿保護模塊。
本測試系統由主控器、高壓放大器、變溫綜合測試平臺(配鐵電測試盒)或高低溫探針臺(配高壓探針)、計算機及系統軟件部分組成。主控器集成了可編程波形發生器、內置驅動電壓、電荷積分器、可編程放大器、模數轉換器、通訊總線等功能,主控器提供擴展外置高壓放大器接口,可擴展±5 kV或±10 kV的高壓放大器。系統軟件包括可視化數據采集和管理功能,測試時,無需改變測試樣品的連接,即可實現滯回,脈沖,漏電,IV等性能測試。
本鐵電參數測試儀/PUND測試采用改進的Sawyer- Tower測量方法,與傳統的Sawyer- Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度,減少了對測試的影響環節,容易定標和校準,并且能實現較高的測量準確度。
該系統測試功能:
動態電滯回線DHM
I-V特性
脈沖PUND
疲勞Fatigue
漏電流LM
電流-偏壓。
DLQL-1700
LSR-3
BKZEM-3
WLDR-1000
JKZC-ESAM6000
TPS-1000
PZT-1000
LDGM-501
CGN-1000
HVLT-600
HTRT-2000
SPEX-8000D
TEM 熱、電、氣、液、冷凍樣品桿
合金分析儀
SHM1000
其他
NAI-ZLY-4/6C
CX-100
EMC-1
HMYX-2000
GPZT-JH10/4W
NJ-80型
X-300 X-FLUXER? 三位全自動熔片儀
NVT-HG型 單晶生長爐