粉體行業(yè)在線展覽
XRD-晶向定位
XRD 系列
晶圓和鑄錠快速準確的晶向定位
從全自動的在線分析到晶圓材料的快速質(zhì)量檢查,我們的晶向定位解決方案在
設(shè)計時考慮到了晶棒、鑄錠、切片和晶圓的全部應(yīng)用場景。此系列產(chǎn)品利用
XRD分析技術(shù)在晶圓生產(chǎn)的全部流程中,提供簡單、快速、高精度的晶體定
向測量,大大提高產(chǎn)品良率。
Omega/Theta(XRD)
用于超快晶體定向的全自動垂直三軸XRD
10秒內(nèi)完成定向
定向精度:0.003°
定向轉(zhuǎn)移技術(shù):多鑄錠取向測定,實現(xiàn)高效切割
晶錠端面及定位邊定向和轉(zhuǎn)移夾具可選
光學測量工具可選,可測樣品直徑、平邊/V 槽位置、形狀、長度、深度
適應(yīng)不同樣品的精密樣品轉(zhuǎn)盤、mapping臺和工裝夾具
搖擺曲線測量
DDCOM(XRD)
緊湊型超快晶體自動定向儀
10秒內(nèi)完成定向
定向精度:0.01°
兩個閃爍探測器
專為方位角設(shè)置和晶向標記而設(shè)計
可測直徑為 8 mm 至**225 mm的晶圓和晶錠
無需水冷
SDCOM(XRD)
用戶友好的緊湊型多功能XRD
超快測量,10秒內(nèi)返回結(jié)果
定向精度:0.01°
定向轉(zhuǎn)移技術(shù):多鑄錠取向測定,實現(xiàn)高效切割
光學測量工具可選,可測樣品直徑、平邊/V 槽位置、形狀、長度、深度
樣品直徑1-200mm
無需水冷
XRD-OEM
在線晶體定向測定
標準工業(yè)接口,可集成到任何自動化或加工系統(tǒng)中
線切/研磨前對大型晶錠進行全自動在線定向
可內(nèi)置于磨床和切割機等惡劣環(huán)境中使用
平邊/V槽的光學測量功能,如位置、形狀、長度、深度等
Wafer XRD 200 / 300
Wafer XRD 200
無縫融入生產(chǎn)線的全自動高速XRD
用于3-8英寸晶圓片
定向精度:0.003°
產(chǎn)能:100萬片/年
幾秒鐘內(nèi)提供各種基本參數(shù)的關(guān)鍵數(shù)據(jù),如晶體取向和電阻率、幾何特征(如 V 槽和平槽)、距離測量等
全自動處理和揀選晶圓片
Wafer XRD 300
用于300mm晶圓生產(chǎn)的高速XRD
超快速提供12英寸晶圓的晶體取向和幾何特征等
定向精度:0.003°
幾秒鐘內(nèi)提供各種基本參數(shù)的關(guān)鍵數(shù)據(jù),如晶體取向和電阻率、幾何特征(如 V 槽和平槽)、距離測量等
附加功能
晶圓面掃 鑄錠堆垛
自動化晶圓揀選 小樣品夾具
Mastersizer 3000+
提供Blue Label 和 Red Label 型號
Mastersizer 3000
Spraytec
NanoSight Pro
提供 Blue Label 和 Red Label 型號
提供Blue Label 和 Red Label 型號
Mastersizer 3000E
Morphologi 4-ID
Empyrean
Insitec干法/濕法/噴霧式
Zetium