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QT-4100 綜合測試系統
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QT-4100 綜合測試系統
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QT-4100綜合測試系統,適用于三極管、二極管、齊納二極管、MOS-FET(IGBT、SIC 氮化鎵)、J-FET、Current Sense FET、LDO(78XX、79XX、TL431、TL432常規測試)、光電耦合器等產品及晶圓。 可擴展:可控硅測試、SCANBOX、Dual Gate-FET、Q Plus 、三極管開關時間(TST, TR ,TF, TON)、熱阻測試(DVDS, DVCE, DVBE,DVF)等。
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