粉體行業在線展覽
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北京智德創新儀器設備有限公司
北京
面議
290
ZJD-C型硫化橡膠介電常數介質損耗測試儀作為**一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內**的160MHz.ZJD-C硫化橡膠介電常數介質損耗測試儀采用了多項**技術。
雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。
雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。
雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。
自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。
全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。
DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩定。
計算機自動修正技術和測試回路**化 —使測試回路 殘余電感減至*低，徹底根除 Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。
*1.信號源: DDS數字合成信號 100KHZ-160MHZ
*2.信號源頻率精度3×10-5 ±1個字，6位有效數
3．Q值測量范圍：1～1023
4．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔；
*5．電感測量范圍：1nH～140mH 自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能
*6．電容直接測量范圍：1pF～25nF
7．主電容調節范圍： 17～240pF
8．準確度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%
9．信號源頻率覆蓋范圍100kHz～160MHz
10．合格指示預置功能范圍：5～1000
11．環境溫度：0℃～+40℃；
12．消耗功率：約25W；電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
13. S916（數顯）介電常數εr和介質損耗因數tanδ測試裝置：
數顯式微桿，平板電容器：
極片尺寸： 38mm
極片間距可調范圍：≥15mm
夾具插頭間距：25mm±0.01mm
夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）
測微桿分辨率：0.001mm
測試極片：材料測量直徑Φ38mm厚度可調 ≥ 15mm
*液體杯：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內徑Φ48mm 、深7mm
14. 電感組LKI-1：
分別有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十個電感組成。
主機 一臺
電感 九支
夾具 一套
液體杯 一套
隨機文件一套
警告：使用本標準的人員應有正規實驗室工作的實踐經驗。本標準并未指出所有可能的安全問題。使用者有責任采取適當的安全和健康措施，并保證符合國家有關法規規定的條件。
本標準規定了介電常數和介質損耗角正切值的兩種測定方法。方法A為工頻（50Hz）下的測定方法，方法B為高頻電場下的測定方法。
本標準適用于硫化橡膠。
下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內容）或修訂版均不適用于本標準，然而，鼓勵根據本標準達成協議的各方研究是否可使用這些文件的新版本。凡是不注日期的引用文件，其**版本適用于本標準。
GB/T 2941橡膠物理試驗方法試樣制備和調節通用程序（GB/T 2941-2006，ISO 23529：2004，IDT）
下列術語和定義適用于本標準。
3.1
介質損耗dielectric loss
絕緣材料在電場作用下，由于介質電導和介質極化的滯后效應，在其內部引起的能量損耗。
3.2
損耗角δloss angleδ
在交變電場下，電介質內流過的電流向量和電壓向量之間的夾角（功率因數角φ）的余角（δ）。
3.3
損耗角正切tanδ loss tangentδ
介質損耗因數 dielectric loss factor
介質損耗角正切值。
3.4
介電常數εdielectric constant
絕緣材料在電場作用下產生極化，電容器極板間有電介質存在時的電容量C、與同樣形狀和尺寸的真空電容量C0之比。
注：不同試樣、不同電極的真空電容和邊緣校正的計算參見附錄A。
4.1電極材料
見表1。
表 1電極材料
電極材料 | 規格要求 | 適應范圍 |
鋁箔和錫箔 | 鋁箔和錫箔應退火，厚度為0.01mm左右，用凡士林、變壓器油、硅油或其他合適油作為粘接劑 | 接觸電極用 |
導電橡膠 | 體積電阻系數不大于300Ω·cm（交流），邵爾A硬度為40～60，表面應光滑 | 接觸電極用 |
銅 | 表面可鍍防腐蝕的金屬層，但鍍層應均勻一致，工作面粗糙度Ra值應不低于3.2 | 一般做輔助電極用，對軟質膠可直接作接觸電極用 |
導電粉末 | 石墨粉，銀粉，銅粉等 | 管狀試樣內電極用 |
4.2電極尺寸
4.2.1板狀試樣電極
4.2.1.1方法A：板狀電極尺寸見表2，電極如圖1所示。
表 2板狀試樣電極尺寸單位為毫米
D1 | D2 | D3 | D4 | H1 | H2 |
25.0±0.1 | 29.0±0.1 | 40 | ≥40 | 30 | 5 |
50.0±0.1 | 54.0±0.1 | 74 | ≥74 |
1——測量電極；
2——保護電源；
3——試樣；
4——高壓電極。
圖 1板狀試樣電極配置（工頻）
4.2.1.2方法B：采用二電極系統。電極尺寸大小與試樣尺寸相等，或電極小于試樣尺寸。板狀試樣電極直徑為φ38.0mm±0.1mm、φ50.0mm±0.1mm、φ70.0mm±0.1mm。
4.2.2管狀試樣電極
4.2.2.1方法A：管狀試樣電極尺寸見表3，電極如圖2所示。
表 3管狀試樣電極尺寸
L1 | L2 | L3 | g |
25 | 5 | ≥40 | 2.0±0.1 |
50 | 10 | ≥74 |
1——保護電極；
2——測量電極；
3——高壓電極；
4——試樣。
圖 2管狀試樣電極配置（工頻）
4.2.2.2方法B：管狀試樣電極尺寸，電極如圖3所示。
管狀試樣的電極長度為50.0mm±0.1mm或70.0mm±0.1mm。
1——試樣；
2——上電極；
3——下電極。
圖 3管狀試樣電極配置（高頻）
4.3電極裝置
在進行高頻測試時，根據測試頻率與測試要求可用支架電極（如圖4），當頻率大于或等于1MHz且小于10MHz時，宜用測微電極（如圖5）；當頻率大于或等于10MHz時，應用測微電極。
1——上蓋螺釘；
2——上蓋板；
3——升降螺桿；
4——上電極導軌；
5——螺帽；
6——導筒；
7——導槽螺釘；
8——絕緣桿；
9——高壓電極；
10——試樣；
11——測量電極；
12——保護電極；
13——絕緣板（聚四氟乙烯板）；
14——絕緣支腳；
15——有機玻璃板。
圖 4支架電極
1——微調管形電容器；
2——測試樣品電容器；
3——上支撐板；
4——上電極；
5——試樣；
6——下電極；
7——底板。
圖 5測微電極
5.1方法A
5.1.1測試儀器為工頻高壓電橋，其原理圖如圖6所示。
T試驗變壓器；
C3標準電容器；
C5試樣；
R3可變電阻；
C2、C4可變電容；
R4固定電阻；
G-電橋平衡指示器；
P放電器。
圖 6工頻高壓電橋原理圖
5.1.2測量范圍
損耗角正切（tanδ）：0.001～1；電容（C）：40pF～2000pF。
5.1.3電橋測量誤差
測量時誤差不超過10%，當試樣tanδ小于0.001時測量誤差不超過0.0001，電容的測量誤差不超過5%，標準電容器的tanδ應小于0.0001。
5.1.4電橋必須有良好的屏蔽接地裝置。
5.2方法B
5.2.1方法B的測試儀器有兩種：一種是諧振升高法（Q表），另一種時變電鈉法。
5.2.1.1諧振升高法（Q表）
其測試原理圖如圖7所示。
A電流表；
R0耦合電阻；
L輔助線圈；
C標準電容；
C0試樣；
V、V1電壓表（用Q值表示）。
圖 7Q表原理圖
5.2.1.1.1測量范圍
頻率為50Hz～50MHz，電容40pF～500pF，Q值10～600。
5.2.1.1.2測量誤差
電容誤差：±（0.5%C+0.1pF），Q值±10%；有關儀器的測量誤差均為±10%。
5.2.1.2變電鈉法
其測試原理如圖8所示。
C——可調電容；
L——諧振線圈；
CT——管形微調電容；
Cu——主電容；
Cx——試樣。
圖 8高頻介質損耗儀原理圖
6.1試樣尺寸
6.1.1方法A試樣尺寸見表4。
表 4試樣尺寸單位為毫米
試樣 | 尺寸 | 厚度 |
板狀 | 圓形：φ100 正方形：邊長100 | 軟質橡膠1.0±0.1 硬質橡膠2.0±0.2 |
管狀 | 管長100 |
6.1.2方法B試樣尺寸見表5。
表 5試樣尺寸單位為毫米
試樣 | 尺寸 | 厚度 |
板狀 | 圓形：φ38，φ50、φ100 正方形：邊長100 | 軟質橡膠1.0±0.1 硬質橡膠2.0±0.2 |
管狀 | 管長50，管長70 |
6.2試樣的制備
試樣的制備應符合GB/T 2941的規定，也可以在符合試樣厚度尺寸的膠板上用旋轉刀進行裁切，制樣方法的不同，其試驗結果無可比性。
6.3試樣數量
試樣的數量不少于3個。
試樣在硫化與試驗之間的時間間隔按GB/T2941的規定執行。
8.1試樣表面應清潔、平滑，無裂紋、氣泡和雜質等，試樣表面應用蘸有無水乙醇的布擦洗。
8.2試樣應在標準實驗室溫度及濕度下至少調節24h。
8.3當試樣處理有特殊要求時，可按其產品標準規定的進行。
9.1方法A
9.1.1試驗電壓為1000V～3000V，一般情況下為1000V，電源頻率為50Hz。
9.1.2按設備說明書正確的連接。
9.1.3接通電源預熱30min。
9.1.4將試樣接人電橋C、的橋臂中，加上試驗電壓，根據電橋使用方法進行平衡，讀取R3和tanδ或C4的值。
9.2方法B—諧振升高法（Q表法）
9.2.1按照Q表的操作規程調整儀器，選定測量頻率，測定C1和Q1的值。
9.2.2將試樣放入測試電極中，并調節電容器C，使電路諧振，達到**Q值記下調諧電容量C2和Q2的值。
9.2.3將試樣從測試電極中取出，調節C或測試電極的距離，使電路重新諧振，記下C、或測試電極的校正電容值與Q值，并根據測試值計算出損耗角tanδ與介電常數ε。
9.2.4其他高頻測試儀器按其說明書進行操作，通過測試值計算出損耗角tanδ和介電常數ε。
10.1方法A
10.1.1介質損耗角正切值（tanδ）可在電橋上直接讀數，按式（1）進行計算：
tanδ=2πfR4C4×10-6…………………………（1）
式中：
π——3.14；
f——頻率50Hz；
R4——固定電阻阻值，單位為歐姆（Ω）；
C4——可變電容值，單位為微法（μF）；
10.1.2介電常數（ε）的計算見表6。
表 6介電常數的計算
tanδ | 板狀試樣 | 管狀試樣 |
≤0.1 | …………（2） | …………（3） |
>0.1 | …………（4） | …………（5） |
式中： d試樣厚度，單位為厘米（cm）； CR標準電容器電容量，單位為皮法（pF）， R4固定電阻阻值，單位為歐姆（Ω）； R3可變電阻阻值，單位為歐姆（Ω）； S電極有效面積單位為平方厘米（cm2）； ……………………………（6） L1管狀試樣測量電極長度，單位為厘米（cm）； D測量電極有效直徑，單位為厘米（cm）； DB管外徑，單位為厘米（cm）； DA管內徑，單位為厘米（cm）； g測量電極與環電極間距，單位為厘米（cm）； ln自然對效； π3.14。 | ||
10.2方法B
10.2.1電容的計算
10.2.1.1諧振升高法
應用支架電極時按式（7）計算：
Cx=C1-C2+Ca…………………………………（7）
應用測微電極時按式（8）計算：
Cx=C’1-C’2+Ca……………………………（8）
10.2.1.2變電納法（配用測微電極）：
按式（9）、式（10）計算：
Cx=C1-C2+Ca…………………………………（9）
其中：Ca= …………………………（10）
當電極直徑為38mm時，則Ca=1/d
式中：
Cx——試樣的并聯等值電容，單位為皮法（pF）；
C1——電極間距為試樣厚度d，且無試樣時諧振電容量，單位為皮法（pF）；
C2——有試樣時諧振電容量，單位為皮法（pF）；
C'1——極的校正電容值，單位為皮法（pF）；
C'——有試樣時，測微電極間距等于試樣厚度時，測微電極的校正電容值，單位為皮法（pF）；
C——試樣的幾何電容量，單位為皮法（pF）；
S——電極面積單位為平方厘米（cm2）；
d——試樣厚度，單位為厘米（cm）。
10.2.2介電常數ε的計算
按式（11）計算：
………………………（11）
式中：
Cx——試樣的并聯等值電容，單位為皮法（pF）；
d——試樣的厚度，單位為厘米（cm）；
D——電極的直徑，單位為厘米（cm）。
10.2.3介質損耗角正切tanδ值的計算
10.2.3.1諧振升高法（Q表法）按式（12）計算：
……………………（12）
10.2.3.2變電納法：各種高頻損耗測試儀配用測微電極使用時按式（I3）計算：
………………………（13）
式中：
C’——無電極時，諧振回路標準電容器指示值單位為皮法（pF）；
Q1——無試樣時，電極間距為d時，諧振Q值；
Q2——電極間有試樣時的諧振Q值；
△Ci—有試樣時兩次衰減至諧振峰0.707時，微調電容變化量，單位為皮法（pF）；
△C0——無試樣時兩次衰減至諧振峰0.707時，微調電容變化量，單位為皮法（pF）；
Cx——試樣的并聯等值電容，單位為皮法（pF）。
10.2.4管狀試樣測試結果計算
10.2.4.1試樣電容量按式（14）計算：
Cx=C1-C2…………………………（14）
式中：
C1——無試樣時，諧振電容量；
C2——有試樣時，諧振電容量。
10.2.4.2試樣介電常數按式（15）式（16）計算：
…………………………（15）
其中：…………………（16）
式中：
L——電極長度，單位為厘米（cm）；
D1、D2——管外徑和內徑，單位為厘米（cm）。
10.2.4.3損耗角正切值的計算
與Q表接線柱直接連線時按式（17）計算：
………………………（17）
當高頻介質損耗角測試儀與測微電極連接時按式（l8）計算：
………………………（18）
式中：
C1、Q1——無試樣時，諧振電容量及Q值；
C2、Q2——有試樣時，諧振電容量及Q值；
△Ci——有試樣時兩次衰減至諧振峰0.707時，微調電容變化量，單位為皮法（pF）；
△C0——無試樣時兩次衰減至諧振峰0.707時，微調電容變化量，單位為皮法（pF）。
注：不同試驗環境對試驗結果的影響因素參見附錄B。
10.3試驗結果以每組試驗結果的中位數表示，取兩位有效數字。
硫化橡膠介電常數介質損耗測試儀b）本標準編號或本標準名稱；
硫化橡膠介電常數介質損耗測試儀d）實驗室溫度、濕度；
硫化橡膠介電常數介質損耗測試儀e）介電常數測試儀試樣的規格；
硫化橡膠介電常數介質損耗測試儀f）測元件及電極尺寸；
硫化橡膠介電常數介質損耗測試儀g）試樣和測試條件的調節；
硫化橡膠介電常數介質損耗測試儀h）介電常數測試儀測量方法和測量電路；
硫化橡膠介電常數介質損耗測試儀i）介電常數測試儀試驗電壓及頻率；
硫化橡膠介電常數介質損耗測試儀k）試驗日期。
