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EA-160是一款全自動非接觸式表面測量儀。利用光譜共焦原理，EA-160可用于膜厚線寬測量、微觀尺寸測量、高度差測量、平面度測量、共面度測量、粗糙度測量等，也可對透明半透明材質進行多層尺寸測量。高精度、高速測量，結合強大易用的軟件，EA-160膜厚測試儀被廣泛應用于微電子、半導體、5G、3D玻璃、新型醫療、精密工業制造等領域。

應用領域：

HTCC膜厚線寬測量、LTCC膜厚線寬測量、SOFC印刷厚度測試、厚膜電路測量、晶圓涂膠測量、MEMS測量、SENSOR測量、太陽能硅片測量、芯片形貌測量、透明材質測量、環氧樹脂測量、印刷圖形測量、激光鐳雕測量、Wafer槽深測量、斷差測量、Lens測量、油墨厚度測量、藍寶石厚度測量、曲面鏡片測量

特點：

高速度、高精度自動測量系統

**160mm*160mm 范圍測量

透明材質穿透測量

測量膜厚、線寬、平面度等

多程序自由切換，方便靈活

參數：