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STJ X-ray是專用于軟X射線束探測的無液氦超導隧道結X射線譜儀，具有高能量分辨和高計數率等優點。
STJ X-ray射線譜儀
概述：
超導隧道結（STJ）X-射線譜儀由美國STAR Cryoelectronics 公司專門為同步輻射研究領域開發的一款高性能低溫探測系統。優化設計的STJ探測器既適合作為紫外-軟X射線波段范圍（50eV-3keV）熒光產率吸收譜（PFY-XAS）用探測器，也適合作為同步輻射裝置的高光子通量探測器。在525eV處的能量分辨率（峰半高寬）優于10eV，每像素每秒計數超過1萬次。STJ探測器比傳統固態探測器（例如HPGe）和硅漂移探測器的分辨率高10倍，并保持高量子效率和高計數率的特點，與其它低溫探測器相比，STJ探測器使用更簡單也更穩定，非常適合作為高光子通量同步加速器裝置的X射線探測器來使用。
性能參數
與傳統固態探測器相比，STJ探測器能量分辨率優于10eV，能夠分辨出大多數傳統固體探測器無法辨識的近鄰峰。利用STJ探測器可清晰地分辨出Mn和Fe 的L峰位于F的k峰（677eV）的兩側，能夠將不同元素的熒光產率吸收譜從弱背景中提取出來。STJ探測器也可將V、Cr、Ti的 L峰從O的K峰位分辨出來，W和Ta的M峰從Si的K峰位中分辨出來。
在每像素每秒計數率在2，000次以內時，STJ保持高能量分辨率地特點，即使計數率超過10，000次，STJ的能量分辨率仍保持在20eV左右。
通過32-Pixel STJ探測器采集的多元素樣品的單像素譜
集成STJ探測器的DRC-100 ADR恒溫器全部操作由計算機程控。與其它類型低溫探測器不同，STJ探測器的工作溫度只需要低于250mK閥值溫度即可。帶微型snout的ADR恒溫器在200mK的工作溫度下可保持60小時，再生循環過程僅需1.5小時。三層紅外濾光片能夠消除室溫輻射芯片，且1keV以上X射線透射率超過90%。也可根據需求提供允許低能射線通過濾光片，不過ADR恒溫器的低溫保持時間將會縮短。
通過標準三層IR紅外濾光片的X射線透過率與能量關系
配置
根據實驗的不同，提供標準型和微型兩種STJ X-ray探測器系統。標準型STJ X-ray探測器系統帶一個42cm長72mm粗的冷指，冷指末端端面上安裝一個112像素芯片，冷指可伸入分析室使得探測器距離樣品僅1cm，每個像素的有效探測面積為0.2mm*0.2mm，總有效探測元面積為4.48mm2。
標準型STJ X-ray探測器恒溫器 （帶112個探測器陣列，總有效探測元面積為4.48mm2） 微型STJ X-ray系統是針對空間受限的實驗設計，提供32mm粗的snout、32個探測器陣列和一個標準2.75”刀口法蘭。 這兩種STJ X-ray恒溫器系統帶標準6”或者2.75”刀口法蘭，與用戶實驗腔公用同一真空，故無需提供X射線真空密封窗口。探測器安裝在行程為32cm的線性滑軌上，允許探測器從樣品腔撤出并通過插板閥隔離。法蘭中心到下面線性滑軌底部距離有33cm的標準高度和22.6cm較矮型兩種。
微型STJ X-ray探測器恒溫器
