粉體行業(yè)在線展覽
面議
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C11011-01W 微米膜厚測量儀
特性
利用紅外光度測定進行非透明樣品測量
測量速度高達(dá)60 Hz
測量帶圖紋晶圓和帶保護膜的晶圓
長工作距離
映射功能
可外部控制
參數(shù)
型號 | C11011-01W |
可測膜厚范圍(玻璃) | 25 μm to 2900 μm*1 |
可測膜厚范圍(硅) | 10 μm to 1200 μm*2 |
測量可重復(fù)性(硅) | 100 nm*3 |
測量準(zhǔn)確度(硅) | < 500 μm: ±0.5 μm; > 500 μm: ±0.1 %*3 |
光源 | 紅外LED(1300 nm) |
光斑尺寸 | φ60 μm*4 |
工作距離 | 155 mm*4 |
可測層數(shù) | 一層(也可多層測量) |
分析 | 峰值探測 |
測量時間 | 22.2 ms/點*5 |
外部控制功能 | RS-232C / PIPE |
接口 | USB2.0 |
電源 | AC100 V to 240 V, 50 Hz/60 Hz |
功耗 | 50W |
*1:SiO2薄膜測量特性
*2:Si薄膜測量特性
*3:測量6 μm厚硅薄膜時的標(biāo)準(zhǔn)偏差
*4:可選配1000mm工作距離的模型C11011-01WL
*5:連續(xù)數(shù)據(jù)采集時間不包括分析時間
電腦組合體系VG42
重量選別稱
UNI800C多物料配料控制儀
配料計量系統(tǒng)
數(shù)字式密度計DS7000系列
片式電容四參數(shù)測試機
0~10%糖度
三路浮子流量計 MFC-3F
Oilwear 在線油液清潔度檢測儀
YB-JZX小量程自動檢重秤
BT-301粉體振實密度測試儀
HTR