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TM-3000二維高速尺寸測量儀

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基恩士（中國）有限公司

日本

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762

產品介紹

希望“高精度”且能夠“在生產線內”進行“二維”尺寸測量。一向對生產線內測量精益求精的KEYENCE，本次使二維尺寸測量儀的高速化到達一個新的境界。

•	從點到面的二維測量，可同時測量*多16 處的測量范圍內設定的測量項目。測量時間大幅縮短。
•	新開發處高速生產線適用的二維專用處理器，使用2 個高速演算CPU 和圖像處理專用DSP。
•	高亮度LED 和W 遠心光學系統構成的高精度空間。

測量原理：將綠色LED 光轉化為均一的平行光進行照射。檢測出二維CMOS 上受光的明暗投影，然后測量

其尺寸和角度等。采用只成像平行光的W 遠心鏡頭。即使對象物與鏡頭之間的位置發生變化，CMOS 上的影像

大小并不會改變，所以可以實現高精度測量。

應用：

多點外徑和高度差

傳統的激光掃描方式

采用一維透射式掃描進行測量，必須考慮裝置的位移精度，因而無法實現高精度測量。

TM-3000 系列

TM系列采用二維透射式進行測量，無需掃描。只需將工件置于測量范圍內便可實現多點外徑測量，既提高了精度，又縮短了工時。

測量多點變形

傳統的激光掃描方式

需先將試樣從試驗機中取出后再用游標卡尺測量，因此測試需要花費大量時間。

TM-3000 系列

若使用TM系列測量，則可以在給試樣施力的同時確認其變形程度，測試時無需將試樣從試驗機中取出。另外，可在測試進行期間不斷追加其他條件，既準確又省時。

定位

傳統的激光掃描方式

若測量時所用攝像機及照明設備與測量機器相撞，則需要花費大量時間進行調節。

TM-3000 系列

TM系列運用了透射原理，且測量范圍大，調節不費時間，縮短了裝置操作工時。

厚度

傳統的激光掃描方式

測量時使用兩個透射傳感器分別感測輥軸和薄膜，因此需要花費時間去設置和調節設備。

TM-3000 系列

若使用TM系列測量，僅需一個傳感頭即可同時感測輥軸和薄膜，不產生設置誤差，同時避免了因振動引起的震顫。在品質和保養上均有改善。

測量多點偏移

傳統的激光掃描方式

傳統透射式進行多點測量時，除需考慮測量點數×轉動時間外，還要算入移至測量點的移動時間。

TM-3000 系列

若使用TM系列，僅需從二維數據中選定測量點，即可實現測量。多點偏移測量完全同步且一次完成，大大縮短作業時間。

獲取更多信息，請訪基恩士（中國）有限公司網站

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TM-3000二維高速尺寸測量儀

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多點外徑和高度差

測量多點變形

定位

厚度

測量多點偏移