粉體行業在線展覽
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RhizoTron®根系表型觀測系統基于國際通用的根窗觀測技術,其基本單元包括用于植物萌發生長的根盒(RhizoBox)、基于智能LED光源的植物培養系統、成像設備(掃描儀或RGB彩色鏡頭、高光譜鏡頭等)和分析軟件,全自動高通量根系表型觀測系統還包括自動化傳送系統等。(下圖分別為掃描式根系成像系統、智能LED光源板、根窗根系)
主要技術特點:
1) 基于根窗技術,與微根窗技術比,可全視野(根據根盒大小而定)觀測根系生長發育
2) 根盒大小可根據客戶需求定制,寬度一般為30cm,深度可達幾十到100cm
3) 可選配中央控制單元,控制10-100個根窗單元同步掃描成像,做到無損傷、高通量
4) 可選配基于掃描成像技術的根系觀測系統,手動載樣,每小時可對幾十株植物進行根系掃描成像
5) RGB彩色掃描成像與高光譜掃描成像技術,全面分析根系年齡、水分時空分布及土壤基質組分結構等信息
6) 可選配土壤水分、溫度、電導監測,及土壤O2、CO2監測
7) 可選配根系多參數監測,包括O2、pH、溫度等
8) 可選配自動稱重單元
9) 可選配植物葉綠素熒光監測等生理生態監測
10) 可選配根系多光譜熒光成像分析,用于植物脅迫、根生中藥生理生化分析等
11) 可選配智能LED光源培養臺,0-100%光強調節、晝夜節律模擬
12) 可選配水培作物根系觀測客戶定制方案,對作物根系表型進行高光譜成像分析
13) 可選配紅外熱成像對作物根系散熱進行分析
14) 可選配全自動高通量根系表型觀測系統,高通量自動分析根系深度、根系寬度(根冠寬)、根冠面積、根系總長度等
歐洲PSI公司為德國IPK(Leibniz Institute of Plant Genetics and Crop Plant Research)設計安裝的高通量作物根系表型分析系統
主要技術指標(客戶定制系統,僅供參考)
1) 根窗觀測面積:A4型216 x 297mm,A3型310×437mm
2) RGB掃描成像分辨率:A4型4800dpi,A3型2400dpi
3) VISIR可見光近紅外掃描成像分析:
STD4800 | LA2400** | SpectraScen-FX10 | SpectraScan-FX17 | |
描述 | RGB高質量高速掃描儀 | RGB多功能、高速掃描面積大的掃描儀 | 400-1000nm波段高光譜掃描成像 | 900-1700nm近紅外波段高光譜掃描成像 |
分辨率 | 4800DPI | 2400DPI | 1024x,可選配更高分辨率 | 640x |
掃描速度 | 較快 | 快 | 330fps | 670fps |
**掃描面積cm | 21.6x29 | 30x43 | 標配40x60cm,可選配其它規格大小 | |
是否可對土壤基質掃描 | 可以 | 可以,可對根系與土壤水分進行成像分析 |
4) 高光譜掃描成像分析波段:400-1000nm(標配),可選配900-1700nm或1000-2500nm短波紅外波段
5) 野外可選配智能一體式高光譜掃描成像技術:內置自動推掃系統、取景器相機等,高度便攜,集光譜成像數據采集、可視化數據處理、觸摸屏與控制鍵等于一體,采用圖形用戶界面(GUI)
6) 高光譜分析軟件采用SAM算法及Savitzky-Golay濾波器技術,可創建類別或分級模型并建立App直接導入高光譜成像儀使用,建議同時選配ENVI軟件
7) 可根據光譜特征曲線或參考光譜曲線,對不同年齡、不同脅迫條件下根系生理生化響應等進行分析、檢測、性狀篩選等
8) 可監測分析參數:根長、根直徑、根面積、根總長、根總面積、根平均直徑、根數量及生物量、細根壽命、細根周轉率等
9) 可對土壤基質進行高光譜掃描成像分析,以研究分析土壤理化特性與土壤根系的相互關系等
10) 可同時對植株根與苗(root & Shoot)進行高光譜掃描成像分析,以分析研究植物水分分布時空動態變化、脅迫響應、表型檢測篩選等
11) 智能LED光源植物培養臺(選配):外部大小222cm長x 86cm寬x 66cm高,內部大小180x80x55cm,LED智能光源,冷白光+近紅外(可選配紅藍等其它顏色或波段LED光源),有效均一光源面積1.4m2,250μmol(photon).m-2.s-1,0-100%可調,可模擬晝夜節律等,溫控范圍高于室溫+2~12度范圍內。