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用于FIB和SEM的OmniProbe納米操縱手自1995年以來客戶口碑較好，市場占有率較高，目前有三種型號可滿足不同的預算和應用 OP350，OP400及Cryo。

OmniProbe 350提供精確的納米級控制。其緊湊的端口安裝設計，大限度地減少與其他探測器和附件的干擾。憑借穩定的探針平臺和亞納米壓電馬達，這一代的探針具有低振動、低漂移和**的定位精度。再結合直觀的用戶界面，其運動方向是基于所見的圖像進行校準的。

OmniProbe 400采用壓電驅動技術，可以實現納米級別的定位。 OmniProbe 400具有很高的靈活性和性能，是高分辨率和高效率的納米操縱手。

Cryo將樣品提取功能擴展至低溫樣品（包括用高壓冷凍法制備的樣品）。低溫-聚焦離子束顯微鏡（Cryo-FIB）的提取功能可以在經第三方低溫系統冷卻至-180°C的樣品上操作。通過結合低溫-透射電子顯微鏡（Cryo-TEM）或低溫-原子探針(cryo-atom probe)可以拓展納米分析的樣品類型和應用領域 。