粉體行業(yè)在線展覽
粉體行業(yè)在線展覽
牛津儀器C-Swift EBSD探測器
直接聯(lián)系
牛津儀器科技（上海）有限公司
英國
面議
牛津
牛津儀器C-Swift EBSD探測器
1052
C-Swift是CMOS探測器家族的新成員，專為常規(guī)材料分析和快速樣品表征而設(shè)計。
C-Swift繼承了Symmetry的許多優(yōu)點，包括為EBSD專門定制CMOS傳感器。這些優(yōu)點使得C-Swift也成為一種開創(chuàng)性的EBSD探測器。
C-Swift是一個先進、高速EBSD探測器。與Symmetry探測器一樣，C-Swift使用定制的CMOS傳感器來實現(xiàn)高速和高靈敏度，以確保即使在更具挑戰(zhàn)性的材料上也能獲得高質(zhì)量的結(jié)果。
C-Swift速度高達(dá)1000pps，同時可獲得高質(zhì)量的花樣分辨率(156x128像素）。這相當(dāng)于基于CCD的探測器以相似速度運行時所采集花樣像素數(shù)的4倍，確保所有類型樣品的可靠標(biāo)定和高命中率。無失真光學(xué)系統(tǒng)與AZtec軟件中強大的標(biāo)定算法結(jié)合，使C-Swift能夠提供優(yōu)于0.05°的高角度精度。對于需要更高質(zhì)量花樣的應(yīng)用, C-Swift可以以高達(dá)250pps的速度采集622x512像素的花樣，使其成為復(fù)雜的多相樣品和精細(xì)的相分析的理想選擇。
這是專為快速、有效的樣品表征而設(shè)計的探測器。系統(tǒng)的每個組件，從獨特的接近傳感器到可選的集成前置探測器，都經(jīng)過設(shè)計, 旨在更大限度地提高性能和易用性, 并使EBSD成為每個實驗室的標(biāo)準(zhǔn)工具。
確保1000 點/秒的標(biāo)定速度
在250點/秒速度下，采集622x512像素的EBSD花樣
對低能量和低束流分析具有非常高的靈敏度
無失真圖像
當(dāng)速度是關(guān)鍵時，C-Swift探測器達(dá)到了一個新標(biāo)準(zhǔn)：
僅需要12nA的電子束流，就能保證1000pps的標(biāo)定速度
高速下的156x128像素的花樣分辨率——同等速度下快速CCD探測器的4倍
全分辨率花樣（622x512像素）——精細(xì)的相分析和形變分析的理想選擇
低失真光學(xué)系統(tǒng), 確保角度精度優(yōu)于0.05°
優(yōu)化的高靈敏度熒光屏, 確保低劑量和低束流能量下的高質(zhì)量的花樣——實現(xiàn)更大的空間分辨率
即使在快速下也能實現(xiàn)無縫的EDS集成
波紋管SEM接口，保持SEM真空完整性
獨特的接近傳感器——在可能發(fā)生的碰撞發(fā)生之前自動將探測器移動到安全位置
簡單直觀的探測器設(shè)置，確保每次都能獲得良好的效果
五個集成的前置探測器, 提供全彩色通道襯度圖像和原子序數(shù)襯度圖像
