粉體行業在線展覽
JF-2型勞厄晶體分析儀
面議
遼東射線
JF-2型勞厄晶體分析儀
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JF-2型勞厄晶體分析儀能夠提供穩定的X射線光源,特點是利用可控硅和集成電路自動控制系統進行調流調壓,從而獲得一個強而穩定的射線光源.該機射線發生器功率大,整機穩定性高,操作簡單,可靠性強,防護完善,可與各種射線照相機一起構成X射線晶體分析儀,或用于其他用途的X射線光源.,廣泛用于冶金,機械,電子,化工,地質,,能源,等科研、企業、大專院校.
該X射線晶體分析儀,主要用于研究物質內部微觀結構。如:單晶定向、檢驗缺陷、物質定性、測定點陣參數、測定殘余應力等。
主要參數:
電 源 | AC220V 50HZ 30A |
功 率 | 2 KW |
靶 材 | Cu(可選其他靶材) |
管電壓 | 50 KV(分檔可調) |
管電流 | 50 mA(分檔可調) |
穩定度 | ±1% |
保 護 | 過功率、過電壓、過電流、無水 |
冷 卻 | 循環水、制冷水箱 |
防 護 | 鉛有機玻璃與金屬結構防護罩 |
相 機 | A:德拜相機(粉沫相機)大、小兩種;) B:勞厄相機(平板相機) |
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