粉體行業在線展覽
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佳士科商貿有限公司
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529
V-7000系列能研究看不見的世界**端紫外可見近赤外分光光度計。
采用雙單色器，把光學系統和電氣系統相結合，實現世界**級的性能，強有力地支撐光學材料以及光設備的分光特性評價和薄膜的膜厚測量。
根據用途有3種型號可以選擇。 V-7100，紫外可視區域專用的型號，V-7200采用在近赤外検出器PbS光導電元件，測量范圍可至3300nm的廣波長型號，V-7300是在近赤外検出器采用InGaAs光電二極管的近赤外領域高信噪比型號。
▼特征
?雙單色器的高端型號
?根據測量波長范圍和靈敏度不同有3種型號供選擇
?實現世界一流的測量范圍+/-8.0Abs
?采用超低雜散光設計
?實現波長分解0.049nm的高分辨率(紫外可視區域)
?采用日本分光的光分析裝置軟件JASCO光譜管理器可輕松實現由電腦控制
▼絶対反射率測定裝置
能自動測量各種固體樣品的偏角。適應半導體，薄膜，膠卷，光學元件，光設備的分光特殊性評價以及膜厚測量。
▼小型積分球用于粉末樣品，懸浮液，有凹凸的固體表面的漫反射測量。
◆規格
▼V-7100/7200/7300
型號 | 7100 | 7200 | 7300 |
光學系 | 立體配置Littrow型接口 雙單色器雙光束方式 | ||
光源 | 氘燈鹵鎢燈 水銀光源（校正用） | ||
波長范圍 | 185～900nm | 185～3300nm | 185～1800nm |
分辨率 | 0.049nm以下（UV/VIS） | 0.049nm以下（UV/VIS） 0.2nm以下（NIR） | 0.049nm以下（UV/VIS） 0.1nm以下（NIR） |
波長正確さ | ±0.08nm（190～800nm） | ±0.08nm（190～800nm） ±0.40nm（800～3000nm) | ±0.08nm（190～800nm） ±0.20nm（800～1700nm） |
測光范圍 | +/－8.0Abs | ||
光源 （選項） | 高輝度陶瓷光源 鹵素燈、水冷式高圧水銀光源 | ||
測光精度 | 0.00028Abs（0.3Abs，UV/VIS）使用雙光圈 | ||
基線穩定性 | 0.0002Abs/Hr以下 | ||
基線平坦性 | ±0.0012Abs（200～850nm） | ±0.0012Abs（200～3000nm） | ±0.0012Abs（200～1700nm） |
雜散光 | 0.00007%以下 220nm （10g/L NaI ASTM） 0.00007%以下370nm （50g/L NaNO2） | 0.00007%以下220nm （10g/L NaI ASTM） 0.00007%以下 370nm （50g/L NaNO2） 0.0003%以下1420nm H2O 光路長1cm） 0.00048%以下 2365nm （CHCl3 光路長1cm） | 0.00007%以下220nm （10g/L NaI ASTM） 0.00007%以下 370nm （50g/L NaNO2） 0.00005%以下1420nm （H2O 光路長1cm） |
檢測器 | 光電子増倍管 | 光電子増倍管 冷卻型PbS光導電素子 | 光電子増倍管 冷卻型InGaAs光電二極管 |
定量測定 | 1，2，3波長演算、檢量線：一次、二次、三次式、比例、折線 Logistic函數、樣條函數 | ||
測定光譜 | 測光方式：Abs，%T，%R 數據處理功能：檢測波峰，波峰高度（比） 波峰面積（比）、半值寬、追跡、放大、微分、平滑度、Abs/%T/%R變換 K-M變換、K-K變換、四則演算、基線補正、差光譜、除去不要波峰 去卷積、FFT濾光片、除去數據補間、橫軸變換：cm-1，μm，eV，nm | ||
測定時間變化 | 測光方式：Abs，%T，%R、數據處理功能：動力學、追跡、 | ||
測定固定波長 | 可*多同時測量8個波長 | ||
程序 | JASCO光譜管理器 | ||
表示 | 日本語 | ||
尺寸?重量 | 1020（W）×710（D）×380（H）mm 91kg | ||
LUMiFlector
ASD
Zetium
Serstech 100 Indicator
FluoroMax -
N-500
近紅外光譜分析儀(點擊可看詳細資料)
火焰光度計
Metorex C100型
UV9600D
ARL? PERFORM'X
全譜直讀光譜儀
