粉體行業(yè)在線展覽
XDS 近紅外在線分析儀 ——直射光/非接觸型
面議
瑞士萬通
XDS 近紅外在線分析儀 ——直射光/非接觸型
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XDS近紅外在線分析儀——直射光/非接觸型是用于非直接接觸樣品實時分析的新一代在線分析儀。無損準確的檢測可在任何移動或可接近的產(chǎn)品上進行,比如傳送帶、傳送網(wǎng)帶或薄膜上。非接觸型反射檢測可提供深層的化學成分分析,無論樣品質(zhì)地松散還是緊實,均勻或非均勻。非接觸型檢測可用于纖維狀、薄膜狀、多層疊加狀以及網(wǎng)狀樣品——如塑料、紙張或紡織品等樣品的質(zhì)量控制。
檢測頭安裝在光纖的末端,由感應(yīng)頭發(fā)出的高強度光穿透樣品,光與樣品作用后反射回感應(yīng)頭,經(jīng)收集光纖束傳送到儀器主機進行分光和信號檢測。XDS近紅外在線分析儀的**設(shè)計堅固耐用,為儀器在惡劣工業(yè)環(huán)境下操作時其性能和分析結(jié)果的一致性和穩(wěn)定性提供了一個新標準。
儀器特性及優(yōu)勢
. 適用于移動樣品的無損原位近紅外檢測
. 直接在產(chǎn)品線上的反射檢測,無需直接接觸樣品
. 適用于傳送帶、 傳送網(wǎng)帶上的均勻或非均勻的樣品
. 波長范圍: 800-2200 nm
. 儀器符合 NEMA 4X/IP65,不銹鋼檢測頭符合 IP69K 保護等級
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