粉體行業(yè)在線展覽
PSS Nicomp N3000
面議
美國PSS
PSS Nicomp N3000
1088
Nicomp 3000 系列納米激光粒度儀 專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案
儀器型號:PSS Nicomp N3000 Plus
工作原理:動態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)
檢測范圍: 0.3nm-10.0μm
Nicomp N3000系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號380DLS基礎(chǔ)上升級配套而來,采用動態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理檢測分析顆粒的粒度分布,粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了高斯( Gaussian)單峰算法和的 Nicomp 多峰算法,對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有獨(dú)特優(yōu)勢。
PSS Nicomp N3000
PSS Nicomp Z3000 Standard
Nicomp 380
AccuSizer 780
Z3000 Basic
Z3000 Standard
Nicomp 380 系列納米激光粒度儀
Winner802
BeNano 90
Nicomp 380 Z3000
NS-90
Nanotrac wave II
JL-1198型
NANOPHOX/R
NKT-N9H
A22 NeXT Nano
SZ-100 V2
NanoSight Pro
Nanolink S901