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全自動X光沉降粒度分析儀SediGraph III PLUS
SediGraph®Ⅲ Plus全自動X光沉降粒度分析儀 |
SediGraph使用沉降法從均相液體中分析不同大小的固體顆粒物。通過對X-射線的吸收測量可以直接檢測分離固體顆粒物的質量濃度。測定一定密度顆粒在已知密度和粘度的液體中的沉降,即可以運用Stokes方程來計算顆粒的等效球直徑。在這種情況下,報告中的粒徑就是與測試顆粒具有相同沉降速度的等效球的直徑。
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在過去的四十多年中,美國麥克儀器公司的SediGraph是全世界許多實驗室粒度分析的標準儀器。無論是在惡劣的生產環境還是在專業的化驗室,SediGraph憑借其**的可靠性得出精確的測量結果。粒徑分布的測量采用沉降法,顆粒通過直接吸收X射線而被測量。根據Stockes定律,通過測量粒子在液體中的沉降速率,得出粒子粒徑大小,粒徑分析范圍為0.1~300μm。
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SediGraph III Plus 粒度分析儀先進的設計確保了測量的重復性和使用的便利性。使得儀器操作更加容易,日常維護更加簡單。并且能夠確保對同一樣品,在任意一臺SediGraph儀器上都能獲得重復性極高的結果。
• 簡化泵系統,確保快速分析和易于維護
• 降低噪聲,提供更加安靜的工作環境
• 維護提醒裝置,根據總測試量,提示用戶進行定期維護
• 電腦控制混合室溫度,提高測試可重復性
• Windows操作軟件,以太網連接,可進行點擊式選擇菜單,聯網工作,打印機選擇,剪切和粘貼等操作
• 多功能和交互式報告系統,能夠提供多種類型的報告,例如顆粒沉降速度和粒度(以Phi為單位)
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BT-9300S
Winner2000B
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S3500系列
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ANALYSETTE 22 MicroTec plus
DP-02型
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HELOS-RODOS
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LA-300 、LA-920
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