粉體行業在線展覽
Leica 三離子束切割拋光儀
面議
進與科學
Leica 三離子束切割拋光儀
1208
LEICA三離子束切割儀
可以靈活選擇多種樣品臺,不僅適用于高通量實驗,也適合于特定制樣需求實驗室。依據您具體需求,每一臺Leica EM TIC 3X都可裝配多種可切換樣品臺,如標準樣品臺,三樣品臺,旋轉樣品臺或冷凍樣品臺,應用于常規樣品制備,高通量樣品制備,以及某些高分子聚合物,橡膠或生物材料等溫度極敏感樣品制備。其與Leica EM VCT環境傳輸系統相連接,可以實現將冷凍的生物樣品表面受保護地被真空冷凍傳輸進入鍍膜儀或冷凍掃描電鏡Cryo-SEM中,或者應用于地質或工業材料樣品,實現真空傳輸。
空氣環境中,再直接被轉移進入后續步驟技術手段。例如進Leica EM ACE600進行鍍膜,和/或SEM檢測。