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產品性能:

少子壽命測試儀性能參數：

測量原理： QSSPC（準穩態光電導）；

少子壽命測量范圍： 100 ns-10 ms；

測試模式：QSSPC，瞬態，壽命歸一化分析；

電阻率測量范圍： 3–600 (undoped) Ohms/sq.；

注入范圍：10¹³-10¹⁶cm^-3；

感測器范圍： 直徑40-mm；

測量樣品規格 標準直徑: 40–210 mm （或更小尺寸）；

硅片厚度范圍： 10–2000 μm；

外界環境溫度： 20°C–25°C；

功率要求： 測試儀: 40W， 電腦控制器：200W ，光源：60W；

通用電源電壓： 100–240 VAC 50/60 Hz；

主要特點:

　　適應低電阻率樣片的測試需要，*小樣品電阻率可達0.1ohmcm

　　全自動操作及數據處理

　　對太陽能級硅片，測試前一般不需鈍化處理

　　能夠測試單晶或多晶硅棒、片或硅錠

　　可以選擇測試樣品上任意位置

　　能提供**的表面化學鈍化處理方法

　　對各道工序的樣品均可進行質量監控：

　　硅棒、切片的出廠、進廠檢查

　　擴散后的硅片

　　表面鍍膜后的硅片以及成品電池

少子壽命測試儀

技術參數：

FAQ:

用途、光伏，硅片檢測

包裝、紙質包裝

售后服務:一年保修，終身維護

用途、光伏測試

包裝、紙質包裝

售后服務

一年保修