粉體行業在線展覽
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XRSIM是由美國Iowa州立大學無損檢測中心研制的X射線無損檢測模擬軟件。軟件研制過程歷經23年,其用戶包括美國Los Alamos國家實驗室、Sandia國家實驗室、NASA、美國國家科學基金會、美國諾爾原子能實驗室,美國陸軍、空軍及其它國防工業部門;跨國大公司有如美國鋁業,達信航空航天,勞斯萊斯,普拉特惠特尼、波音、Cessna、ATK公司等,以及荷蘭、韓國、印度、比利時等國家的實驗室、科研院所、無損檢測教學單位及相關企業。
快速的射線檢測模擬。軟件在個人電腦上就可以以較快的速度運行,也不需要優越的工作環境。如圖所示,XRSIM的主要組成部分包括:綠色的CAD圖,根據CAD信息得到的彩色的厚度圖,射線檢測模擬的灰度圖以及參數設置主菜單和子菜單。
應用領域:
?射線源(靶、窗口、能量范圍,……)
? X射線與物質的相互作用(衰減定律,康普頓散射,電子對效應)
?工件和缺陷(Stl文件)
?探測器(吸收劑量,膠片/ 非晶硅,圖像增強器,……)
?建模是基于基本的物理規律
?速度快
?開放式的用戶接口
?可模擬*多由20個零件組裝的產品,每個零件*多可植入4個缺陷
?對計算機硬件要求低
?節約膠片或探測器
?節約時間(人工+機時)
?透照方向分析
?檢測分辨力分析
?優化檢測工藝或參數
?加快預研項目進程(prototype)
?檢測覆蓋率分析
?教育培訓
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Tel:010-68902940
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