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晶圓切割缺陷檢測設備

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泰微科技(珠海)有限公司

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品牌:

泰微科技

型號:

晶圓切割缺陷檢測設備

關注度:

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用于Wafer封裝領域的缺陷檢測設備,通過高精光學系統,高精度運動控制系統和智能AI算法檢測晶圓的表面缺陷及切割缺陷。image.png

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