粉體行業在線展覽
AOI光學檢測
面議
鴻浩半導體
AOI光學檢測
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核心技術:
**光學設計達到業界*低信噪比
**AI影像比對技術,漏檢率達到*低
結合光學及影像處理技術,在高反光背景材料和透明材料上均能清晰檢測待測物
先進性:
采用**雙非球面鏡頭設計,搭配光學系統設計以及AI影像比對技術,顯著提升AOI設備3D檢測能力,Z軸解析度可達2um,漏檢率低至<0.3%。
技術完全自主,可根據客戶需求針對不同產品檢測做定制化設計,協助客戶達到高良率與**品質
簡介: 核心技術: **光學設計達到業界*低信噪比 **AI影像比對技術,漏檢率達到*低 結合光學及影像處理技術,在高反光背景材料和透明材料上均能清晰檢測待測物 先進性: 采用**雙非球面鏡頭設計,搭配光學系統設計以及AI影像比對技術,顯著提升AOI設備3D檢測能力,Z軸解析度可達2um,漏檢率低至<0.3%。 技術完全自主,可根據客戶需求針對不同產品檢測做定制化設計,協助客戶達到高良率與**品質
品牌: Honhor