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ContourGT表面計量系列產品
用于生產和研發的非接觸式三維光學輪廓儀
30年技術革新,實現非接觸式表面測量技術高峰
多核處理器下運行的Vision64™ 軟件,大大提高三維表面測量和分析速度
測量硬件的獨特設計增強生產環境中的可靠性和重復性
高度直觀的用戶界面,擁有業界*強的操作簡便和分析功能強大
我們的干涉儀是世界上**個包含了**的垂直掃描干涉技術(VSI模式),掃描頭傾斜調整,**的自動校準和雙LED照明等革新技術。
ContourGT系列既結合了這些已被證實的設計功能,又在硬件上進行了大量的改進,從而給用戶提供了目前世界上*精確的、重復性**的光學輪廓儀性能。 Bruker的光學輪廓儀具有已被證實的,將近三十年的優越性能運行跟蹤記錄,從研究型實驗室到生產型工廠的上萬臺安裝記錄。
ContourGT-X光學輪廓儀配備有一體式的氣動平臺和雙層金屬鑄件,此兩種設計都是為了隔離震動以避免干擾測量效果,從而獲得快速、精確的、可通過GRR測試的測量結果。
OMM結合了Bruker**的雙LED照明光源技術,在任何樣品任意放大倍數下均可提供**的照明強度和均勻性。OMM還能在整個10mm測量量程內提供無以倫比的準確性和可重復性。馬達驅動的多放大倍率檢測器可包含**三個視場目鏡,以**化放大倍率的靈活性和穩定性。
ContourGT系列可選擇型號中,具有包含Bruker**技術的內置一級標準自校準功能的能力,使得閉環掃描的性能**化。此模塊包含一個參考信號,在儀器啟動時對系統進行自校準,然后連續監控并校正每次測量,以保證**的精確度和**的重復性。
Bruker的傾斜調整支架設計可使得OMM傾斜,而不是樣品傾斜。這樣,被測量的樣品將總處于聚焦位置,并且在測量的視野中,確保了操作的一致性和簡易性。
*這些選項僅在ContourGT-X3和/ContourGT X8型號上具有。
在ContourGT-X型號中具有全自動的8英寸或12英寸樣品臺。兩種樣品臺均配備有0.5um重復性的編碼器。ContourGT-K1型具有可選的6英寸馬達驅動樣品臺。還可選配具有Z方向聚焦旋鈕的XY操縱桿。
選配的馬達驅動塔臺可安裝*多4個干涉物鏡,從1倍至100倍。塔臺設計確保了當您切換物鏡時,您的測試點始終處于聚焦和中心位置。
布魯克納米表面儀器部開通優酷視頻專輯
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