粉體行業在線展覽
BA-100 M系列
美國博曼(Bowman)BA-100系列 X射線熒光毛細管鍍層測厚儀 M系列
美國博曼(Bowman) BA-100 Optics 臺式X射線熒光(XRF)鍍層測厚儀;為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析,以及電鍍液分析。
儀器型號:BA-100-M-uSPOT
儀器采用*前沿的uSPOT多導毛細管技術,實現極小光斑的測量,測量光斑為15um
適用于PCB、FPC、LED、SMT、連接器、端子、五金產品、汽車零部件、衛浴潔具、珠寶等行業的鍍層厚度測量、材料分析、溶液分析;尤其適用于化學鎳金(ENIG)、化學鎳鈀金(ENEPIG)、化學磷P%的分析
可測元素范圍廣泛,Al13—U92
成份分析*多可達25種元素
*多可測4層鍍層+基材層的鍍層厚度
無
BA-100 M系列
靜態
BA-100 P
動態
BA-100 G
BA-100 E系列
BA-100 G系列
BA-100 P系列
BA-100
BA-100 M
BA-100 -1