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>熒光測厚儀
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賽默飛世爾科技（中國）有限公司集團(tuán)展位
美國
面議
595
儀器簡介：
MicronX型熒光測厚儀是一種專門應(yīng)用于半導(dǎo)體材料和電子器件領(lǐng)域的檢測設(shè)備。
檢測區(qū)域為50m~500um. 通過CCD 可放大圖像達(dá)300倍。通過高精密度樣品臺可提供元素面分布圖。
可對多達(dá)7層的涂層或鍍層進(jìn)行逐層厚度測量。
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