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多級顯微分析空氣顆粒物采樣器專為掃描電鏡SEM、能量色散X射線光譜分析EDXS和其他顯微分析技術采集樣品而設計的。采樣器擁有嵌入撞擊級的標準電子顯微采樣托盤（**），采樣后可將采樣托盤直接插入顯微鏡進行分析，無需樣品前處理，減少分析費用。

此外，樣品收集在小的集中點，分析時很容易定位在高濃度地方。并且可選擇不同類型的基片材料用于各種顯微技術，如：X射線熒光分析XRF、投射電鏡TEM、傅里葉變換紅外光譜FTIR、氣相色譜/質譜GC/MS。

應用領域

半導體、制藥、航空航天等高精密制造工業污染控制

無塵室顆粒物污染分析

電腦硬盤顆粒物采樣

環境空氣、高層大氣顆粒物分析

MPS-4G1型 4級無塵室顯微顆粒物/氣溶膠采樣器

1.采集顆粒物粒徑切割點低至0.05um

2.流速：7lpm

3. 氣泵

4. 用于采集無塵室、顆粒物低濃度環境場合

MPS-3型 3級顯微顆粒物/氣溶膠采樣器

1.流速：2slpm

2. 采集顆粒物粒徑切割點低至0.05um

3. 氣泵

4. 用于電腦硬盤、環境空氣等顆粒物/氣溶膠采樣

5. 采樣器袖珍便攜

應用案例

1．臺灣電力公司使用MPS-4G1型顯微分析顆粒物/氣溶膠采樣器采集核電站放射性氣溶膠，并將采集到的樣品用掃描電鏡進行分析。

2． Chuan，Raymond L. and William Chiang，Cascade impactor Colects Airborne Samples for Particle Identification. Solid State Technology，July，1985

3． Chiang，William and Raymond L. Chuan， “The Cascade Impactor as a Particulate Chromatograph for Microanalysis of Aerosol Particles” Aerosols:Science，Technology，and Industruial Applications of Airborne Particles，Liu，Pui，and Fissan，eds.，Elaevier Science Publishing，New York，1984，99pp