粉體行業在線展覽
BA-100 E系列
面議
BA-100 E系列
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總代
X-Ray熒光測厚儀,通過X射線原理,是目前*方便快捷的鍍層測厚方法,產品無須破壞,約20秒完成測量整個過程。博曼測厚儀,2009年,位于美國芝加哥的團隊,創立了博曼Bowman,在原CMI的基礎上,研發更名為博曼,更為高端的精密XRF鍍層測厚儀。2012年發布了全新BA-100系列機型,使用SDD探測器技術XRF系統,是**性價比機型。美國博曼鍍層測厚儀,也叫膜厚儀,源自于CMI牛津團隊,2018年博曼發布了全球*小光斑7.5um FWHM的多導毛細管機型,完善了從經濟型號到端型號的系列產品線,團隊深耕XRF鍍層測厚儀事業三十余年,曾經創立了測厚儀全球知名的CMI品牌,具有代表性的機型。
無
BA-100 M系列
靜態
BA-100 P
動態
BA-100 G
BA-100 E系列
BA-100 G系列
BA-100 P系列
BA-100
BA-100 M
BA-100 -1
Revontium
N80
ScopeX PILOT
VANTA
逸出功能譜儀
ARL X'TRA Companion X射線衍射儀
EDX6000C
WEPER XRF2800
Niton XL2 980Plus
BA-100 G系列
NAOMi-CT 3D-M