粉體行業在線展覽
面議
1020
儀器簡介:
美國** 日本技術 90%市場占有率 是金屬/半導體材料研發和故障分析的有力工具??臻g分辨率高,信息深度5納米以內
技術參數:
俄歇電子能譜儀
• He以上所有元素納米(約5nm)表面定性/表面定量/亞表層以及深度方向信息
1) 成分
2) 圖像
3) DETECT LIMIT 0.1%
4) *小束斑 6納米
5) 儀器型號PHI 700 清華,寶鋼2004,2005年購買
6) 報價 不含稅100萬美金
主要特點:
He以上所有元素納米(約5nm)表面定性/表面定量/亞表層以及深度方向信息
Revontium
N80
ScopeX PILOT
VANTA
逸出功能譜儀
ARL X'TRA Companion X射線衍射儀
EDX6000C
WEPER XRF2800
Niton XL2 980Plus
BA-100 G系列
NAOMi-CT 3D-M